[发明专利]一种旁路二极管上电极的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410798461.8 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN105789034A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 梁存宝;肖志斌;杜永超;铁剑锐 申请(专利权)人: 天津恒电空间电源有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/329
代理公司: 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 代理人: 李凤
地址: 300384 天津市滨海*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 旁路 二极管 电极 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于物理电源技术领域,特别是涉及一种旁路二极管上电极的制备方法。

背景技术

目前,对于太阳电池阵来讲,旁路二极管是极其重要的一部分。其原理是,当某太阳 电池出现热斑效应不能发电时,起到旁路作用,让其它正常的电池所产生的电流从旁路二 极管流出,使太阳能发电系统能够继续发电,不会因为某一片故障电池,而产生电路不通 的情形,当电池片正常工作时,旁路二极管就会反向截止,对电路不产生较大的影响。

对于目前水平,现有的旁路二极管产品,反向漏电流较高,均在几十毫安以上,且尚未 发现有同样或类似产品;www.azurspace.com网站有类似二极管产品,其反向漏电流达到 0.1uA~1.0uA(同条件下测)的水平,其缺点是存在反向漏电流也不能满足空间太阳电池 旁路二极管要求更低的反向漏电流(nA级)指标的需求等技术问题。

发明内容

本发明为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种旁路二极管上电极的制备方法。

本发明解决了背景技术存在的反向漏电流大的技术问题,提供了能够实现具有低反向 漏电流的旁路二极管上电极结构,能够满足空间用旁路二极管的需求。

本发明的目的是提供一种具有工艺简单,制造工艺难度低,加工方便,产品上电极能 够降低反向漏电流指标等特点的旁路二极管上电极的制备方法。

本发明旁路二极管上电极的制备方法所采取的技术方案是:

一种旁路二极管上电极的制备方法,其特点是:旁路二极管上电极采用光刻技术,将 上电极光刻出图形,然后蒸镀上电极,制备过程包括以下工艺步骤:

(1)涂胶

采用已做完硼、磷扩散的衬底硅片,将硅片放在匀胶机上,涂布BP218光刻胶,匀 胶时间为15s~20s;

(2)烘胶

在88-93℃条件下,烘干19-22min;

(3)曝光

接通光刻机,光强监测光强15mw/cm2~20mw/cm2,放好光刻版,使光刻版图形在承 片台中心位置,光刻版铬面朝向硅片匀胶面,曝光灯光强稳定后,将硅片装入光刻机的承 片台上,曝光16s~20s;

(4)显影

将曝光后的硅片装入硅片承载器内,放入显影液中,显影时间为30s~40s;

(5)上电极蒸镀

将硅片放在模具上,磷扩面朝下,装入真空室中,将钛、钯、银膜料分别放入对应 坩埚内,真空镀膜机上进行电极蒸镀,上电极蒸镀钛层、钯层和银层;

(6)去胶

将电池片浸在丙酮溶液中,将其表面的光刻胶去除,完成上电极制作。

本发明旁路二极管上电极的制备方法还可以采取如下技术方案:

所述的旁路二极管上电极的制备方法,其特点是:光刻版的设计电极图形边缘与硅片 边缘距离为600μm。

所述的旁路二极管上电极的制备方法,其特点是:上电极蒸镀的钛膜层厚度为钯膜层厚度为银膜层总厚度为

所述的旁路二极管上电极的制备方法,其特点是:上电极蒸镀时,起始真空度不低于 3×10-4Pa。

所述的旁路二极管上电极的制备方法,其特点是:去胶时,将电池片浸在丙酮溶液时 间为25-40min。

本发明具有的优点和积极效果是:

旁路二极管上电极的制备方法由于采用了本发明全新的技术方案,与现有技术相比, 本发明通过采用光刻技术,将上电极光刻出图形,然后蒸镀上电极。为了降低边缘漏电, 在结构设计上,采用了上电极局部覆盖的结构设计,目的是阻断了上电极通过硅片边缘与 下表面电极的连接,即大大降低了上下电极间物理短接的可能性,该上电极结构设计及使 用,使得反向漏电流指标降低明显,其效果显著。

表1反向漏电对比数据

附图说明

图1是空间用旁路二极管剖面结构示意图;

其中,1-上电极(Ti-Pd-Ag),2-硅基区(p型),3-下电极(Al-Ti-Pd-Ag)。

图2是光刻版设计结构示意图;

图中,A是上电极边界,B是硅片衬底边界;

图3是旁路二极管上电极俯视结构结构示意图。

具体实施方式

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津恒电空间电源有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所,未经天津恒电空间电源有限公司;中国电子科技集团公司第十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410798461.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top