[发明专利]磁共振弥散张量去噪方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410758290.6 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN104504657A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 弥散 张量 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及磁共振成像技术领域,特别涉及一种磁共振弥散张量去噪方法和装置。

背景技术

磁共振弥散张量成像(Diffusion Tensor Imaging,简称为DTI)是利用组织中水分子自由热运动的各向异性原理,探测组织的微观结构,以达到研究人体功能的目的。

目前,DTI是唯一一种可以活体显示脑白质纤维束的无创性成像方法。然而,DTI的信噪比比较低,这在很大程度上限制了DTI在临床上的广泛应用。

磁共振弥散张量成像的物理机制可以表示为:

d=Fρ+n   (公式1)

其中,d表示在磁共振仪上所采集的信号,F表示博立叶编码矩阵,ρ表示弥散加权图像,n通常假定为复高斯白噪声。

在弥散张量成像中,第m个弥散加权图像ρm可以表示为:

   (公式2)

其中,I0∈RN×1表示无弥散加权的参考图像,表示第m个弥散加权图像的相位,b表示弥散加权因子(常量),gm表示第m个弥散加权图像所对应的弥散梯度向量gm=(gxm,gym,gzm)T,D表示弥散张量,具体的D可以表示为:

D=D1D4D5D4D2D6D5D6D3]]>   (公式3)

其中,每个Di∈RN×1,N表示磁共振图像像素点的个数。

具体的,弥散张量成像的过程,主要包括以下步骤:

步骤1:由采集信号d重建图像ρ;

步骤2:根据模型张量(即上述公式2)估计每一空间位置所对应的张量矩阵D;

步骤3:根据下述公式4和公式5,由张量矩阵D计算得到各种弥散参数,例如:MD、FA等:

MD=(λ123)/3   (公式4)

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