[发明专利]磁共振弥散张量去噪方法和装置有效
| 申请号: | 201410758290.6 | 申请日: | 2015-08-04 |
| 公开(公告)号: | CN104504657A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
| 发明(设计)人: | 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天尧 |
| 地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁共振 弥散 张量 方法 装置 | ||
1.一种磁共振弥散张量去噪方法,其特征在于,包括:
采集K空间数据;
根据采集的K空间数据,求取弥散张量的最大似然估计值;
利用弥散张量和弥散参数的稀疏性,将求取的最大似然估计值作为初始值,计算弥散张量的最大后验概率估计值;
根据求取的所述最大后验概率估计值,计算弥散系数。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据采集的K空间数据,求取弥散张量的最大似然估计值,包括:
按照以下公式计算弥散张量的最大似然估计值:
其中,表示弥散张量的最大似然估计值,dm表示第m个弥散加权图像所对应的K空间数据,F表示博立叶编码矩阵,I0表示无弥散加权的参考图像,表示第m个弥散加权图像的相位,b表示弥散加权因子,gm=(gxm,gym,gzm)T表示第m个梯度向量。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,利用弥散张量和弥散参数的稀疏性,将求取的最大似然估计值作为初始值,计算弥散张量的最大后验概率估计值,包括:
按照以下公式计算弥散张量的最大后验概率估计值:
其中,
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,R(·)约束每个弥散张量的稀疏性,或者R(·)约束弥散张量的联合稀疏性。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:
在R(·)约束每个弥散张量的稀疏性的情况下,
在R(·)约束弥散张量的联合稀疏性的情况下:
其中,Ψ为运算符,表示稀疏变换,ψi表示Ψ的第i列,||·||1表示求L1范数,||·||2表示求L2范数。
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