[发明专利]磁共振弥散张量去噪方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410758290.6 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN104504657A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 弥散 张量 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种磁共振弥散张量去噪方法,其特征在于,包括:

采集K空间数据;

根据采集的K空间数据,求取弥散张量的最大似然估计值;

利用弥散张量和弥散参数的稀疏性,将求取的最大似然估计值作为初始值,计算弥散张量的最大后验概率估计值;

根据求取的所述最大后验概率估计值,计算弥散系数。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据采集的K空间数据,求取弥散张量的最大似然估计值,包括:

按照以下公式计算弥散张量的最大似然估计值:

其中,表示弥散张量的最大似然估计值,dm表示第m个弥散加权图像所对应的K空间数据,F表示博立叶编码矩阵,I0表示无弥散加权的参考图像,表示第m个弥散加权图像的相位,b表示弥散加权因子gm=(gxm,gym,gzm)T表示第m个梯度向量。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,利用弥散张量和弥散参数的稀疏性,将求取的最大似然估计值作为初始值,计算弥散张量的最大后验概率估计值,包括:

按照以下公式计算弥散张量的最大后验概率估计值:

其中,FA=223-(D1+D2+D3)2D12+D22+D32+2D42+2D52+2D62,]]>R(·)表示作用于弥散张量D的惩罚函数,G(·)表示作用于弥散参数FA的惩罚函数,γ1、γ2表示正则化参数、D1,D2,D3,D4,D5,D6代表不同方向的6个弥散张量。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,R(·)约束每个弥散张量的稀疏性,或者R(·)约束弥散张量的联合稀疏性。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:

在R(·)约束每个弥散张量的稀疏性的情况下,

在R(·)约束弥散张量的联合稀疏性的情况下:

其中,Ψ为运算符,表示稀疏变换,ψi表示Ψ的第i列,||·||1表示求L1范数,||·||2表示求L2范数。

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