[发明专利]点云采样方法及系统在审

专利信息
申请号: 201410710164.3 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN105701861A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: 张旨光;吴新元;魏哲睿;谢鹏 申请(专利权)人: 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 谢志为
地址: 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 采样 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及点云处理技术领域,尤其涉及一种点云采样方法及 系统。

背景技术

点云精简是点云处理的关键步骤,三维扫描时,一个产品的完 整点云通过多幅点云合幷而成,往往数据量很大,因此,对点云进 行精简显得格为重要。如果对合幷完的点云进行合适的精简,能有 效的提高处理效率。随机采样在对数据精度要求不是非常高的情况 下,由于算法复杂度较低,能很好的提高运算效率。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种点云采样方法及系统,能够降 低计算复杂度,提高运算效率。

一种点云采样方法,应用于计算装置中,该方法包括:获取步 骤,接收点云网格化文件,并从该点云网格化文件中获取点云的信 息;计算步骤,根据所获取的点云的信息计算点云的包围盒,把所 述包围盒切分为多个立方体,并从所切分的多个立方体中选取有效 立方体;分配步骤,给每个有效立方体中的每个点随机分配一个参 考值;采样步骤一,根据每个有效立方体中的所有点的参考值分别 对每个有效立方体进行采样获取每个有效立方体的初始采样点,将 每个有效立方体的初始采样点合并成所述点云的初始采样点;采样 步骤二,根据所述点云中点的总数及预设采样比例对所述点云的初 始采样点进行处理以完成对所述点云的采样。

一种点云采样系统,应用于计算装置中,该系统包括:获取模 块,用于接收点云网格化文件,并从该点云网格化文件中获取点云 的信息;计算模块,用于根据所获取的点云的信息计算点云的包围 盒,把所述包围盒切分为多个立方体,并从所切分的多个立方体中 选取有效立方体;分配模块,用于给每个有效立方体中的每个点随 机分配一个参考值;采样模块,用于根据每个有效立方体中的所有 点的参考值分别对每个有效立方体进行采样获取每个有效立方体的 初始采样点,将每个有效立方体的初始采样点合并成所述点云的初 始采样点;所述采样模块,还用于根据所述点云中点的总数及预设 采样比例对所述点云的初始采样点进行处理以完成对所述点云的采 样。

相较于现有技术,所述点云采样方法及系统将点云划分为多个 立方体,然后对每个立方体随机采样,对每个立方体随机采样后的 数据合并处理为所述点云的采样数据,该方法计算复杂度较低,能 很好的提高运算效率。

附图说明

图1是本发明点云采样系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是本发明点云采样系统较佳实施例的功能模块图。

图3是本发明点云采样方法较佳实施例的流程图。

主要元件符号说明

计算装置 1 点云采样系统 10 存储设备 11 处理设备 12 获取模块 100 计算模块 101 分配模块 102

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