[发明专利]用于光纤通道的循环冗余校验方法在审

专利信息
申请号: 201410707150.6 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN104410477A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 秦刚刚;王刚;刘剑锋 申请(专利权)人: 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04B10/07
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 刘东升
地址: 300308 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 用于 光纤 通道 循环 冗余 校验 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于高速数据通信技术领域,具体涉及一种用于光纤通道的循环冗余校验方法,其能够依据光纤通道协议对光纤通道数据进行校验。

背景技术

循环冗余交换(Cyclic Redundancy Check,CRC)是一种常用的数据校验技术,在数据通信领域中应用广泛。CRC技术将需要传输的每一位数据按照一定的计算方式进行运算,并将结果作为校验码添加的数据流后一起传输,接收方通过相同的计算方法对接收到的数据进行计算,将结果与规定的码字进行比较,从而确定数据传输的正确性。

光纤通道是一种高速数据通信技术,为了确保发现光纤通道数据在传输过程的错误,需要对传输的数据进行校验,光纤通道协议采用了CRC32交换方式。光纤通道传输速度在1G以上,因此对光纤通道数据进行校验一般采用硬件实现。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是:如何提供一种光纤通道数据校验方法,要求其利用CRC校验方法和装置对接收到的光纤通道数据帧进行校验。

(二)技术方案

为解决上述技术问题,本发明提供一种用于光纤通道的循环冗余校验方法,其包括:

步骤S1:上层模块控制光纤通道CRC校验的开始与停止,并将给出待校验的光纤通道数据提交给CRC校验模块进行CRC校验,数据位宽为32位,数据长度为M;

上层模块依据光纤通道协议帧定界符判断一帧数据的开始和结束,当上层模块检测到SOF定界符时,表示一个光纤通道帧的开始,此时产生CRC校验开始信号,并将此后接收到的光纤通道数据依次发送给CRC校验模块;当上层模块检测到EOF定界符时,表示一个光纤通道帧的结束,此时停止向CRC校验模块发送数据并产生CRC校验停止信号;所述CRC校验模块包括:数据变换模块、CRC余数计算模块、余数比较模块;

步骤S2:CRC校验模块接收到上层模块的CRC校验开始信号时启动;具体由所述数据变换模块接收上层模块传来的光纤通道数据,检测所接收到的光纤通道数据是否为紧随CRC校验开始信号而来的有效数据,若是,则判断其为第一个有效数据,将该有效数据取反并提交给CRC余数计算模块;若否,则判断其不为第一个有效数据,将该有效数据直接提交给CRC余数计算模块;

步骤S3:CRC余数计算模块将经过数据变换模块变换后的有效数据根据如下CRC32校验公式进行迭代运算,其中,Din为数据变换模块提供的光纤通道数据;

所述CRC32校验公式具体为:

D31=D30

D30=D29

D29=D28

D28=D27

D27=D26

D26=D25^D31^Din

D25=D24

D24=D23

D23=D22^D31^Din

D22=D21^D31^Din

D21=D20

D20=D19

D19=D18

D18=D17

D17=D16

D16=D15^D31^Din

D15=D14

D14=D13

D13=D12

D12=D11^D31^Din

D11=D10^D31^Din

D10=D9^D31^Din

D9=D8

D8=D7^D31^Din

D7=D6^D31^Din

D6=D5

D5=D4^D31^Din

D4=D3^D31^Din

D3=D2

D2=D1^D31^Din

D1=D0^D31^Din

D0=D31^Din

步骤S4:CRC校验模块根据上层模块的CRC校验停止信号停止CRC校验模块的工作;具体由CRC余数计算模块根据上层模块提供的CRC校验停止信号,将步骤S3中余数迭代运算的结果提交给余数比较模块;余数比较模块将运算结果与光纤通道协议规定的CRC校验用数据0xHC704DD7B进行比较,如果相同输出数据1表示校验正确,如果不同输出数据0表示校验错误,并将比较结果上报上层模块。(三)有益效果

与现有技术相比较,本发明具备如下有益效果:该方案可以根据光纤通道协议对光纤通道数据进行校验,并且具有较低的延迟,能够满足8Gbps以上的通信速率要求。

附图说明

图1是本发明装置示意图。

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