[发明专利]用于光纤通道的循环冗余校验方法在审
申请号: | 201410707150.6 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN104410477A | 公开(公告)日: | 2015-03-11 |
发明(设计)人: | 秦刚刚;王刚;刘剑锋 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H04B10/07 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 刘东升 |
地址: | 300308 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光纤 通道 循环 冗余 校验 方法 | ||
技术领域
本发明属于高速数据通信技术领域,具体涉及一种用于光纤通道的循环冗余校验方法,其能够依据光纤通道协议对光纤通道数据进行校验。
背景技术
循环冗余交换(Cyclic Redundancy Check,CRC)是一种常用的数据校验技术,在数据通信领域中应用广泛。CRC技术将需要传输的每一位数据按照一定的计算方式进行运算,并将结果作为校验码添加的数据流后一起传输,接收方通过相同的计算方法对接收到的数据进行计算,将结果与规定的码字进行比较,从而确定数据传输的正确性。
光纤通道是一种高速数据通信技术,为了确保发现光纤通道数据在传输过程的错误,需要对传输的数据进行校验,光纤通道协议采用了CRC32交换方式。光纤通道传输速度在1G以上,因此对光纤通道数据进行校验一般采用硬件实现。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是:如何提供一种光纤通道数据校验方法,要求其利用CRC校验方法和装置对接收到的光纤通道数据帧进行校验。
(二)技术方案
为解决上述技术问题,本发明提供一种用于光纤通道的循环冗余校验方法,其包括:
步骤S1:上层模块控制光纤通道CRC校验的开始与停止,并将给出待校验的光纤通道数据提交给CRC校验模块进行CRC校验,数据位宽为32位,数据长度为M;
上层模块依据光纤通道协议帧定界符判断一帧数据的开始和结束,当上层模块检测到SOF定界符时,表示一个光纤通道帧的开始,此时产生CRC校验开始信号,并将此后接收到的光纤通道数据依次发送给CRC校验模块;当上层模块检测到EOF定界符时,表示一个光纤通道帧的结束,此时停止向CRC校验模块发送数据并产生CRC校验停止信号;所述CRC校验模块包括:数据变换模块、CRC余数计算模块、余数比较模块;
步骤S2:CRC校验模块接收到上层模块的CRC校验开始信号时启动;具体由所述数据变换模块接收上层模块传来的光纤通道数据,检测所接收到的光纤通道数据是否为紧随CRC校验开始信号而来的有效数据,若是,则判断其为第一个有效数据,将该有效数据取反并提交给CRC余数计算模块;若否,则判断其不为第一个有效数据,将该有效数据直接提交给CRC余数计算模块;
步骤S3:CRC余数计算模块将经过数据变换模块变换后的有效数据根据如下CRC32校验公式进行迭代运算,其中,Din为数据变换模块提供的光纤通道数据;
所述CRC32校验公式具体为:
D31=D30
D30=D29
D29=D28
D28=D27
D27=D26
D26=D25^D31^Din
D25=D24
D24=D23
D23=D22^D31^Din
D22=D21^D31^Din
D21=D20
D20=D19
D19=D18
D18=D17
D17=D16
D16=D15^D31^Din
D15=D14
D14=D13
D13=D12
D12=D11^D31^Din
D11=D10^D31^Din
D10=D9^D31^Din
D9=D8
D8=D7^D31^Din
D7=D6^D31^Din
D6=D5
D5=D4^D31^Din
D4=D3^D31^Din
D3=D2
D2=D1^D31^Din
D1=D0^D31^Din
D0=D31^Din
步骤S4:CRC校验模块根据上层模块的CRC校验停止信号停止CRC校验模块的工作;具体由CRC余数计算模块根据上层模块提供的CRC校验停止信号,将步骤S3中余数迭代运算的结果提交给余数比较模块;余数比较模块将运算结果与光纤通道协议规定的CRC校验用数据0xHC704DD7B进行比较,如果相同输出数据1表示校验正确,如果不同输出数据0表示校验错误,并将比较结果上报上层模块。(三)有益效果
与现有技术相比较,本发明具备如下有益效果:该方案可以根据光纤通道协议对光纤通道数据进行校验,并且具有较低的延迟,能够满足8Gbps以上的通信速率要求。
附图说明
图1是本发明装置示意图。
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