[发明专利]用于光纤通道的循环冗余校验方法

权利要求书

1.一种用于光纤通道的循环冗余校验方法，其特征在于，其包括：

步骤S1：上层模块控制光纤通道CRC校验的开始与停止，并将给出待校验的光纤通道数据提交给CRC校验模块进行CRC校验，数据位宽为32位，数据长度为M；

上层模块依据光纤通道协议帧定界符判断一帧数据的开始和结束，当上层模块检测到SOF定界符时，表示一个光纤通道帧的开始，此时产生CRC校验开始信号，并将此后接收到的光纤通道数据依次发送给CRC校验模块；当上层模块检测到EOF定界符时，表示一个光纤通道帧的结束，此时停止向CRC校验模块发送数据并产生CRC校验停止信号；所述CRC校验模块包括：数据变换模块、CRC余数计算模块、余数比较模块；

步骤S2：CRC校验模块接收到上层模块的CRC校验开始信号时启动；具体由所述数据变换模块接收上层模块传来的光纤通道数据，检测所接收到的光纤通道数据是否为紧随CRC校验开始信号而来的有效数据，若是，则判断其为第一个有效数据，将该有效数据取反并提交给CRC余数计算模块；若否，则判断其不为第一个有效数据，将该有效数据直接提交给CRC余数计算模块；

步骤S3：CRC余数计算模块将经过数据变换模块变换后的有效数据根据如下CRC32校验公式进行迭代运算，其中，Din为数据变换模块提供的光纤通道数据；

所述CRC32校验公式具体为：

D31＝D30

D30＝D29

D29＝D28

D28＝D27

D27＝D26

D26＝D25^D31^Din

D25＝D24

D24＝D23

D23＝D22^D31^Din

D22＝D21^D31^Din

D21＝D20

D20＝D19

D19＝D18

D18＝D17

D17＝D16

D16＝D15^D31^Din

D15＝D14

D14＝D13

D13＝D12

D12＝D11^D31^Din

D11＝D10^D31^Din

D10＝D9^D31^Din

D9＝D8

D8＝D7^D31^Din

D7＝D6^D31^Din

D6＝D5

D5＝D4^D31^Din

D4＝D3^D31^Din

D3＝D2

D2＝D1^D31^Din

D1＝D0^D31^Din

D0＝D31^Din

步骤S4：CRC校验模块根据上层模块的CRC校验停止信号停止CRC校验模块的工作；具体由CRC余数计算模块根据上层模块提供的CRC校验停止信号，将步骤S3中余数迭代运算的结果提交给余数比较模块；余数比较模块将运算结果与光纤通道协议规定的CRC校验用数据0xHC704DD7B进行比较，如果相同输出数据1表示校验正确，如果不同输出数据0表示校验错误，并将比较结果上报上层模块。