[发明专利]一种有效控制探针卡内探针的针径的方法在审

专利信息
申请号: 201410692983.X 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104502874A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 沈茜;莫保章 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01B21/10
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 吴俊
地址: 201203上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 有效 控制 探针 方法
【权利要求书】:

1.一种有效控制探针卡内探针的针径的方法,其特征在于,所述方法包括:

提供一包括多个探针的探针卡,每个所述探针均用于连接测试机台和被测试结构;

在所述测试机台上设定所述探针的针径参考值;

在对所述被测试结构进行测试前,判断所述探针的针径是否大于所述针径参考值,若所述探针的针径大于所述针径参考值,则停止所述探针卡对所述被测试结构的测试。

2.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述方法还包括:

若所述探针的针径不大于所述针径参考值,继续进行所述探针卡对所述被测试结构的测试。

3.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述方法还包括:

停止所述探针卡对所述被测试结构的测试后,对所述探针卡进行计划维护。

4.如权利要求3所述方法,其特征在于,在完成计划维护操作后还包括对所述探针卡进行检测的步骤,以确保探针卡内探针针径不大于所述针径参考值。

5.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述测试机台还包括:

对针模块,用于执行所述探针与所述探针卡的对针操作。

6.如权利要求5所述方法,其特征在于,所述对针模块中还设置有针径测量模块,所述针径测量模块用于测量所述探针的针径尺寸。

7.如权利要求6所述方法,其特征在于,判断所述探针的针径是否大于所述针径参考值的步骤之前,所述针径测量模块对所述探针进行测量,以获取所述探针的针径尺寸。

8.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述测试机台还设置有一报警模块;

当所述探针的针径大于所述针径参考值时,所述报警模块发出报警信息。

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