[发明专利]小视场光学系统光学视差检测方法及实施该方法的设备

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及到了一种小视场光学系统光学视差检测方法及实施该方法的设备。

背景技术

视差产生的简化光学原理图如图1所示。为使分析更具一般性，假设图中A0 为设计像源面位置，A1表示实际装配后像源面位置。F是系统的物方焦点。A0和A1分别是像源面经过光学系统成像后的理想像面和实际像面。根据几何光学成像原理，实际装配后，像源面经过系统成像，产生的实际像面将比理想像面更远离系统出瞳。由于实际像面与设计像面不重合，出瞳比眼瞳大，在系统出瞳面上不同位置观察时，必将产生视差，视差即是在目镜出瞳处观察 和 时的角度值之差。

传统的视差测量方法有：视度测量法、摆头法、示数观测镜法。待检系统放在光管和视度筒中间，视度筒物镜放在待检系统的出瞳处，调三者大致共轴，测量物像和分划像的视度差值；摆头法也叫平行光管法，这是现在使用最多的一种方法，观察时是以平行光管分划刻线作为参考基准，直接用人眼在出瞳平面内摆动获得物像与分划像之间最大的相对错动量，该错动量即为视差，以上两种方法都要借助平行光管，不适用于单侧透光的产品的测试；示数观测镜是一种实用而简便的平视显示器视差调校设备,但由于它对视差的检测是定性测量，不适用于最终测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种小视场光学系统光学视差检测方法，以解决传统方法无法检测小视场、单侧发光的光学系统类产品的问题。

同时，本发明的目的还在于提供用于实施上述小视场光学系统光学视差检测方法的设备。

为了解决上述问题，本发明的小视场光学系统光学视差检测方法采用以下技术方案：小视场光学系统光学视差检测方法，包括以下步骤：1）将光学对准器与经纬仪相对设置，将经纬仪调至平行光反射，开启光学对准器，调节经纬仪焦距使光学对准器的十字线清晰，调整经纬仪方位使经纬仪的十字线与光学对准器的十字线单边重合；2）当需要测试左右方向视差时，分别向左、右移动经纬仪至光学对准器视场的极限位置并调整经纬仪方位，使经纬仪十字线与光学准直器的十字线单边重合，其中经纬仪向左移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的右半视场逐渐消失至竖线时的位置，其中经纬仪向右移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的左半视场逐渐消失至竖线时的位置，分别记录经纬仪在左、右移动至光学对准器视场的极限位置时的角度值，两角度值之差的绝对值便是光学对准器在左右方位上的视差；当需要测试上下方向视差时，分别向上、下移动经纬仪至光学对准器视场的极限位置并调整经纬仪方位，使经纬仪十字线与光学准直器的十字线单边重合，其中经纬仪向上移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的下半视场逐渐消失至竖线时的位置，其中经纬仪向下移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的上半视场逐渐消失至竖线时的位置，分别记录经纬仪在上、下移动至光学对准器视场的极限位置时的角度值，两角度值之差的绝对值便是光学对准器在俯仰方位上的视差。

所述光学对准器的出瞳口径为4mm-63.5mm。

所述光学对准器的出瞳口径为30mm。

用于实施小视场光学系统光学视差检测方法的设备采用以下技术方案：该设备包括光学平台，所述光学平台上前后相对的设置有光学对准器和经纬仪，光学对准器通过相应的支架装配在光学平台上，经纬仪装配在光学平台上并且可以前、后、左、右、上、下移动。

所述光学对准器的出瞳口径为4mm-63.5mm。

所述光学对准器的出瞳口径为30mm。

有益效果：本发明利用光学对准器来模拟眼瞳视差，当选取光学准直器的出瞳有有效口径，即大于眼瞳的直径4mm，小于双目瞳距63.5mm，则视场范围内的视差便不再是双眼造成的视差，而是小视场光学系统出瞳极限位置处的视差，从而便可解决传统方法无法检测小视场、单侧发光的光学系统类产品的问题。

附图说明

图1是视差产生的原理图；

图2是本发明的小视场光学系统光学视差检测方法采用的检测平台组成图；

图3是光学对准器显示示意图；

图4是光学对准器初始校准显示示意图；

图5是光学对准器的左视场极限位置对准显示示意图；

图6是光学对准器的右视场极限位置对准显示示意图。

具体实施方式