[发明专利]小视场光学系统光学视差检测方法及实施该方法的设备有效
申请号: | 201410647044.3 | 申请日: | 2014-11-13 |
公开(公告)号: | CN104359656A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 王磊;余壮;崔晓非;张保昌 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 韩天宝 |
地址: | 471009 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 视场 光学系统 光学 视差 检测 方法 实施 设备 | ||
1.小视场光学系统光学视差检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将光学对准器与经纬仪相对设置,将经纬仪调至平行光反射,开启光学对准器,调节经纬仪焦距使光学对准器的十字线清晰,调整经纬仪方位使经纬仪的十字线与光学对准器的十字线单边重合;2)当需要测试左右方向视差时,分别向左、右移动经纬仪至光学对准器视场的极限位置并调整经纬仪方位,使经纬仪十字线与光学准直器的十字线单边重合,其中经纬仪向左移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的右半视场逐渐消失至竖线时的位置,其中经纬仪向右移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的左半视场逐渐消失至竖线时的位置,分别记录经纬仪在左、右移动至光学对准器视场的极限位置时的角度值,两角度值之差的绝对值便是光学对准器在左右方位上的视差;当需要测试上下方向视差时,分别向上、下移动经纬仪至光学对准器视场的极限位置并调整经纬仪方位,使经纬仪十字线与光学准直器的十字线单边重合,其中经纬仪向上移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的下半视场逐渐消失至竖线时的位置,其中经纬仪向下移动至光学对准器视场极限位置是指光学对准器的十字线的上半视场逐渐消失至竖线时的位置,分别记录经纬仪在上、下移动至光学对准器视场的极限位置时的角度值,两角度值之差的绝对值便是光学对准器在俯仰方位上的视差。
2.根据权利要求1所述的小视场光学系统光学视差检测方法,其特征在于,所述光学对准器的出瞳口径为4mm-63.5mm。
3.根据权利要求2所述的小视场光学系统光学视差检测方法,其特征在于,所述光学对准器的出瞳口径为30mm。
4.用于实施如权利要求1所述的方法的设备,其特征在于,包括光学平台,所述光学平台上前后相对的设置有光学对准器和经纬仪,光学对准器通过相应的支架装配在光学平台上,经纬仪装配在光学平台上并且可以前、后、上、下、左、右移动。
5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,所述光学对准器的出瞳口径为4mm-63.5mm。
6.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,所述光学对准器的出瞳口径为30mm。
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