[发明专利]用于对板状或棒状的物体打标的方法和系统无效
| 申请号: | 201410584831.8 | 申请日: | 2014-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN104812172A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
| 发明(设计)人: | 斯蒂芬·纽布兰德 | 申请(专利权)人: | 米尔鲍尔有限两合公司 |
| 主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00;H05K1/02 |
| 代理公司: | 北京华睿卓成知识产权代理事务所(普通合伙) 11436 | 代理人: | 程淼;彭武 |
| 地址: | 德国罗丁约瑟夫*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 物体 标的 方法 系统 | ||
1.用于对棒状或板状的物体(10)打标的方法,所述物体布置在X-Y平面中并且至少局部受到Z方向上的挠曲,包括以下步骤:
在物体(10)在X-Y平面中的旋转和位置的方面,借助至少一个对位标记(19)确定所述棒状或板状的物体(10)相对于参考点(RO)的定向,其中,所述对位标记(19)在物体(10)的表面上位于物体(10)在Z方向上没有显著的挠曲的地点,所述对位标记的实际位置至少近似落在其额定位置上;
确定至少一个样标(36)的实际位置(18),所述样标与所述对位标记(19)位于物体(10)的同一表面上,其中,所述样标(36)在所述物体(10)的表面上位于物体(10)在Z方向上具有显著的挠曲的地点,所述样标的实际位置和额定位置相互偏离;
求出所述样标(36)的额定位置(17)和所述样标(36)的实际位置(18)之间的偏差(△x1、△y1);以及
借助激光束(37)对物体(10)打标,其中,为了打标,至少基于求出的偏差(△x1、△y1)修正激光束(37)的定向(α2)。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参考点(RO)位于有待打标的物体的外部。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述样标(36)位于所述物体(10)的在Z方向上挠曲最大的区域中。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在打标步骤之前进行计算步骤,在该计算步骤中借助角度(α1)和求出的偏差(△x1、△y1)计算所述样标(36)的额定位置(17)和所述对位标记(19)之间的Z偏差(△z1),和其中在打标步骤中基于计算出的Z偏差(△z1)修正激光束(32)的定向(α2)。
5.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,针对第二额定位置(17b)、第二对位标记(19b)、第二实际位置(18b)和第二偏差(△x2、△y2、△z2)重新执行确定步骤、求出步骤以及在需要时执行计算步骤;并且其中在打标步骤中基于在求出的偏差(△x1、△y1、△z1)和第二偏差(△x2、△y2、△z2)之间的线性内插补的偏差(△xn、△yn、△zn)修正激光束(32)的定向(α2)。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,针对第三额定位置(17c)、第三对位标记(19c)、第三实际位置(18c)和第三偏差(△x3、△y3、△z3)重新执行投射步骤、求出步骤以及在需要时执行计算步骤;和其中在打标步骤中基于双线性内插补的偏差(△xn、△yn、△zn)修正激光束(37)的定向(α2)。
7.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述物体(10)是印制电路板。
8.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述物体(10)支撑在两个设置在物体的边缘区域中的板条(20a、20b)上。
9.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,所述额定位置(17)位于测量区域(16)中。
10.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在打标步骤中对物体(10)的标记区域(14)打标。
11.根据上述权利要求之一所述的方法,其特征在于,在投射步骤之前进行定向步骤,在定向步骤中使物体(10)在加工区域中定向。
12.用于对棒状或板状的物体(10)打标的系统,所述物体布置在X-Y平面中并且至少局部受到Z方向上的挠曲,所述系统包括:
摄像机(40),所述摄像机设置用于拍摄至少一个对位标记(19)的图像并且将图像传输给一个处理器单元(50),其中,所述对位标记(19)在物体(10)的表面上位于一个物体(10)在Z方向上没有显著的挠曲的地点,所述对位标记的实际位置至少近似落在其额定位置上;
其中,所述处理器单元(50)设置和编程用于在物体(10)的旋转和位置方面借助至少一个对位标记(19)确定棒状或板状的物体(10)相对于参考点(RO)的定向,
其中,所述摄像机(40)设置用于拍摄至少一个样标(36)的实际位置(18)并且传输给处理器单元(50),其中,样标(36)与所述对位标记(19)位于物体(10)的同一表面上,并且其中所述样标(36)在物体(10)的表面上位于物体(10)在Z方向上具有显著的挠曲的地点,所述样标的实际位置和额定位置相互偏离;
其中,所述处理器单元(50)设置和编程用于求出样标(36)的额定位置和样标(36)的实际位置(18)之间的偏差(△x1、△y1);并且
其中,所述处理器单元(50)设置和编程用于给激光辐射器(35)加载用于对物体(10)打标的控制数据,所述激光辐射器设置用于借助激光束(37)对物体(10)打标,其中,基于求出的偏差(△x1、△y1)修正所述控制数据,用于激光束(37)的定向(α2)。
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