[发明专利]磁记录介质及磁存储装置在审
| 申请号: | 201410558092.5 | 申请日: | 2014-10-20 |
| 公开(公告)号: | CN104575530A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
| 发明(设计)人: | 张磊;神边哲也;村上雄二;丹羽和也 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
| 主分类号: | G11B5/66 | 分类号: | G11B5/66 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 丁香兰;孟伟青 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 记录 介质 存储 装置 | ||
1.一种磁记录介质,其特征在于,包括:
基板;
磁性层,其以具有L10型晶体结构的合金为主成分;以及
多个衬底层,其布置在所述基板与所述磁性层之间,
所述多个衬底层包括至少一个结晶衬底层,所述结晶衬底层具有(100)取向,并且包括W来作为主成分、以及选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的一种或多种元素。
2.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,
所述至少一个结晶衬底层还包括选自由Mn、Ta、Nb、Ti、Cr、V、及Mo组成的群组的一种或多种元素。
3.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,
选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的所述一种或多种元素的总含量在1原子%~40原子%的范围内。
4.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,
所述多个衬底层包括取向控制衬底层,该取向控制衬底层包括选自由Cr、具有BCC(体心立方)结构并以Cr为主成分的合金、以及具有B2结构的合金组成的群组的一种或多种金属或合金,
所述至少一个结晶衬底层设在所述取向控制衬底层上。
5.根据权利要求1所述的磁记录介质,其还包括:
阻挡层,其布置在所述至少一个结晶衬底层与所述磁性层之间,
所述阻挡层由选自由MgO、TiO、NiO、TiN、TaN、HfN、NbN、ZrC、HfC、TaC、NbC、TiC组成的群组的一种或多种化合物制成。
6.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,
所述磁性层包括以具有L10型晶体结构的FePt合金或CoPt合金为主成分,并且包括选自由SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、B2O3、C、B、及BN组成的群组的一种或多种物质。
7.一种磁存储装置,其特征在于,包括:
磁记录介质;以及
磁头,其将信息写入所述磁记录介质、并从所述磁记录介质读取信息,
所述磁记录介质包括
基板;
磁性层,其以具有L10型晶体结构的合金为主成分;以及
多个衬底层,其布置在所述基板与所述磁性层之间,
所述多个衬底层包括至少一个结晶衬底层,所述结晶衬底层具有(100)取向,并且包括W来作为主成分、以及选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的一种或多种元素。
8.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,
所述磁记录介质的所述至少一个结晶衬底层还包括选自由Mn、Ta、Nb、Ti、Cr、V、及Mo组成的群组的一种或多种元素。
9.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,
选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的所述一种或多种元素的总含量在1原子%~40原子%的范围内。
10.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,
所述磁记录介质的所述多个衬底层包括取向控制衬底层,该取向控制衬底层包括选自由Cr、具有BCC(体心立方)结构并以Cr为主成分的合金、以及具有B2结构的合金组成的群组的一种或多种金属或合金,
所述至少一个结晶衬底层设在所述取向控制衬底层上。
11.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,
所述磁记录介质还包括阻挡层,其布置在所述至少一个结晶衬底层与所述磁性层之间,
所述阻挡层由选自由MgO、TiO、NiO、TiN、TaN、HfN、NbN、ZrC、HfC、TaC、NbC、TiC组成的群组的一种或多种化合物制成。
12.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,
所述磁记录介质的所述磁性层包括以具有L10型晶体结构的FePt合金或CoPt合金为主成分,并且包括选自由SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、B2O3、C、B、及BN组成的群组的一种或多种物质。
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