[发明专利]磁记录介质及磁存储装置在审

专利信息
申请号: 201410558092.5 申请日: 2014-10-20
公开(公告)号: CN104575530A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 张磊;神边哲也;村上雄二;丹羽和也 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: G11B5/66 分类号: G11B5/66
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 丁香兰;孟伟青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 记录 介质 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种磁记录介质,其特征在于,包括:

基板;

磁性层,其以具有L10型晶体结构的合金为主成分;以及

多个衬底层,其布置在所述基板与所述磁性层之间,

所述多个衬底层包括至少一个结晶衬底层,所述结晶衬底层具有(100)取向,并且包括W来作为主成分、以及选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的一种或多种元素。

2.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,

所述至少一个结晶衬底层还包括选自由Mn、Ta、Nb、Ti、Cr、V、及Mo组成的群组的一种或多种元素。

3.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,

选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的所述一种或多种元素的总含量在1原子%~40原子%的范围内。

4.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,

所述多个衬底层包括取向控制衬底层,该取向控制衬底层包括选自由Cr、具有BCC(体心立方)结构并以Cr为主成分的合金、以及具有B2结构的合金组成的群组的一种或多种金属或合金,

所述至少一个结晶衬底层设在所述取向控制衬底层上。

5.根据权利要求1所述的磁记录介质,其还包括:

阻挡层,其布置在所述至少一个结晶衬底层与所述磁性层之间,

所述阻挡层由选自由MgO、TiO、NiO、TiN、TaN、HfN、NbN、ZrC、HfC、TaC、NbC、TiC组成的群组的一种或多种化合物制成。

6.根据权利要求1所述的磁记录介质,其中,

所述磁性层包括以具有L10型晶体结构的FePt合金或CoPt合金为主成分,并且包括选自由SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、B2O3、C、B、及BN组成的群组的一种或多种物质。

7.一种磁存储装置,其特征在于,包括:

磁记录介质;以及

磁头,其将信息写入所述磁记录介质、并从所述磁记录介质读取信息,

所述磁记录介质包括

基板;

磁性层,其以具有L10型晶体结构的合金为主成分;以及

多个衬底层,其布置在所述基板与所述磁性层之间,

所述多个衬底层包括至少一个结晶衬底层,所述结晶衬底层具有(100)取向,并且包括W来作为主成分、以及选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的一种或多种元素。

8.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,

所述磁记录介质的所述至少一个结晶衬底层还包括选自由Mn、Ta、Nb、Ti、Cr、V、及Mo组成的群组的一种或多种元素。

9.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,

选自由Fe、Ni、Co、Hf、Zr、Y、Be、Ce、La、及Sc组成的群组的所述一种或多种元素的总含量在1原子%~40原子%的范围内。

10.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,

所述磁记录介质的所述多个衬底层包括取向控制衬底层,该取向控制衬底层包括选自由Cr、具有BCC(体心立方)结构并以Cr为主成分的合金、以及具有B2结构的合金组成的群组的一种或多种金属或合金,

所述至少一个结晶衬底层设在所述取向控制衬底层上。

11.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,

所述磁记录介质还包括阻挡层,其布置在所述至少一个结晶衬底层与所述磁性层之间,

所述阻挡层由选自由MgO、TiO、NiO、TiN、TaN、HfN、NbN、ZrC、HfC、TaC、NbC、TiC组成的群组的一种或多种化合物制成。

12.根据权利要求7所述的磁存储装置,其中,

所述磁记录介质的所述磁性层包括以具有L10型晶体结构的FePt合金或CoPt合金为主成分,并且包括选自由SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、B2O3、C、B、及BN组成的群组的一种或多种物质。

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