[发明专利]一种测试内存功耗的方法在审

专利信息
申请号: 201410502157.4 申请日: 2014-09-26
公开(公告)号: CN104317683A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 刘胜 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 内存 功耗 方法
【权利要求书】:

1.一种测试内存功耗的方法,其特征在于,提出了一种由内存、内存升高卡和电阻组成的内存功耗测试装置, 用内存升高卡将从内存插槽上单独接出来,同时内存串联所述电阻,将通过内存条的电流通过电阻上量测出来,然后与内存的VDD电压进行乘积,准确测量出内存的功耗。

2.根据权利要求1所述的一种测试内存功耗的方法,其特征在于,结合系统下的内存压力程序,在系统下安装memtester软件,并对系统进行不同状态加压,

测试通过电阻的不同的电流值,再将测试所得电流值与内存的VDD电压值相乘,得到不同压力状态下的实际内存功耗值;整个测试步骤包括:第一、在linux系统下安装memtester软件,第二、测试准备,第三、打开终端执行测试,第四、计算不同压力状态下内存功耗。

3.根据权利要求2所述的一种测试内存功耗的方法,其特征在于,在linux系统下安装memtester软件,包括采用memtester软件为memtester4.3.0,将memtester-4.3.0.tar.gz拷贝到linux系统,并进行安装,打开终端执行: 

1)tar   zxvf   memtester-4.3.0.tar.gz

2)  cd   memtester-4.3.0

3)  make install。

4.根据权利要求3所述的一种测试内存功耗的方法,其特征在于,所述测试准备,包括首先查看cpu线程数设为a,然后查看内存free容量,开机进入系统若干分钟后,待系统稳定后再查看,取free内存的前四位整数,后面数字取0,然后转化为M,设为bM。

5.根据权利要求4所述的一种测试内存功耗的方法,其特征在于,打开终端执行测试,包括打开终端执行./memtester b/a 100 >/1 &,需要执行此指令a次,比如./memtester b/a 100 >/2 &,…../memtester b/a 100 >/a &;在后台执行测试,相当于把内存分成a段,每个cpu 跑一段检测,然后将测试结果输出到根目录下的1,2,…a文件中。

6.根据权利要求5所述的一种测试内存功耗的方法,其特征在于,计算不同压力状态下内存功耗,包括根据需要跑的Idle、25%、50%、100%压力下,计算出应该设置的数值进行执行操作0,0.25b,0.5b,b;用linux下memtester跑满压力,稳定若干分钟后,用万用表分四次测量经过电阻的电压U,除以阻值,计算出四种状态下电流I值,I乘以Vdd计算出单个内存最大功耗值,并记录。

7.一种内存功耗测试装置,其特征在于,所述内存功耗测试装置包括内存、内存升高卡和电阻,所述内存升高卡设置在主板的内存插槽中,所述内存卡与所述内存升高卡固定连接,通过内存升高卡将内存从主板的内存插槽中单独接出来,所述内存串联所述电阻,通过量测电阻上电流获得内存的电流,内存的功耗是所述电流与内存的VDD电压的乘积。

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