[发明专利]检查方法、安装方法以及安装装置

说明书

本发明提供一种检查方法、安装方法以及安装装置，该检查方法抑制检查精度的降低。在将电子部件向基板搭载时执行的检查方法包含下述步骤：在将电子部件向基板的搭载区域搭载前，利用拍摄元件取得包含搭载区域以及搭载区域周边的基板的周边区域在内的图像数据的步骤；在将电子部件向搭载区域搭载后，取得包含搭载区域以及周边区域在内的图像数据的步骤；将搭载前的图像数据和搭载后的图像数据进行比较的步骤；以及基于比较的结果，对搭载区域以及周边区域中的至少一个有无异常进行判定的步骤。

技术领域

本发明涉及一种检查方法、安装方法以及安装装置。

背景技术

在电子仪器的制造工序中，使用例如专利文献1，专利文献2及专利文献3中公开的、将电子部件向基板上安装的安装装置。

专利文献1：日本特表2005－537630号公报

专利文献2：日本特表2007－511094号公报

专利文献3：日本特开2012－039096号公报

电子部件搭载在基板的搭载区域中。在对搭载区域中是否搭载有电子部件进行检查的情况下，如果其检查精度降低，则可能无法制造出期望的电子仪器，使生产性降低。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种抑制检查精度降低的检查方法。另外，本发明的目的在于，提供一种抑制生产性降低的安装方法以及安装装置。

为了解决上述课题，实现目的，本发明所涉及的检查方法在将电子部件向基板搭载时执行，该检查方法包含下述步骤：在将所述电子部件向所述基板的搭载区域搭载前，利用拍摄元件取得包含所述搭载区域以及所述搭载区域周边的所述基板的周边区域在内的图像数据的步骤；在将所述电子部件向所述搭载区域搭载后，取得包含所述搭载区域以及所述周边区域在内的图像数据的步骤；将所述搭载前的所述图像数据和所述搭载后的所述图像数据进行比较的步骤；以及基于所述比较的结果，对所述搭载区域以及所述周边区域中的至少一个有无异常进行判定的步骤。

在本发明所涉及的检查方法中，也可以包含下述步骤，即，对所述搭载前的所述图像数据和所述搭载后的所述图像数据的、与所述拍摄元件的每个像素对应的亮度值的差分値进行计算，在所述进行比较的步骤中，包含将所述差分値和预先确定的阈值进行比较，基于所述比较的结果，对所述搭载区域以及所述周边区域分别有无异常进行判定。

在本发明所涉及的检查方法中，也可以包含下述步骤，即，对所述搭载前的所述搭载区域的图像数据和所述搭载后的所述搭载区域的图像数据的、与所述拍摄元件的每个像素对应的亮度值的差分値进行计算，在所述进行比较的步骤中，包含将所述差分値和预先确定的阈值进行比较，该检查方法包含下述步骤：基于所述比较的结果，对所述搭载区域有无异常进行判定的步骤；以及选择是否对所述搭载前的所述周边区域的图像数据和所述搭载后的所述周边区域的图像数据的、与所述拍摄元件的每个像素对应的亮度值的差分値进行计算的步骤。

在本发明所涉及的检查方法中，也可以包含下述步骤，即，基于与多个所述差分値相关的信息，对所述阈值进行更新。

在本发明所涉及的检查方法中，所述搭载区域有无异常的判定，也可以包含所述电子部件相对于所述搭载区域的搭载状态有无异常的判定。

为了解决上述课题，实现目的，本发明所涉及的安装方法用于向基板安装电子部件，该安装方法包含利用上述检查方法中对所述搭载区域以及所述周边区域中的至少一个进行检查的步骤。