[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 201410441732.4 申请日: 2014-09-01
公开(公告)号: CN105448334B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 村上洋树 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06;G11C29/44
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 错误校正 数据维持 存储器阵列 压缩组件 压缩 半导体存储装置 外部 延伸 耦接 读取 错误检测 发明配置 输出数据 校正 写入 输出
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,其特征在于,包括:

一存储器阵列;

一数据维持组件,用以维持从该存储器阵列读取的数据,或是维持写入至该存储器阵列的数据;

一外部输出入端点;

一错误校正组件,用以耦接该数据维持组件,并且对输入至该数据维持组件的数据或是来自该数据维持组件的输出数据进行错误检测或是校正;以及

一压缩组件,耦接于该外部输出入端点以及该错误校正组件之间,用以进行数据的压缩或是延伸,其中该压缩组件压缩来自该外部输出入端点所提供的数据,提供被压缩的数据至该错误校正组件,并且延伸从该错误校正组件所提供的数据,提供被延伸的数据至该外部输出入端点,其中该压缩组件将输入数据压缩为包含一数据型态以及该数据型态的一致次数的数据。

2.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,还包括一输出入缓冲器配置于该外部输出入端点以及该压缩组件之间。

3.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,该压缩组件是以逻辑压缩输入数据。

4.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,该压缩组件还包括:

一比较器,用以比较一输入数据以及一型态数据;以及

一计数器,用以计数该输入数据以及该型态数据的一致次数。

5.如权利要求4所述的半导体存储装置,其特征在于,该压缩组件还包括:

一数据型态产生器,用以产生N位组的数据型态;

一判断器,用以判断从该比较器的比较结果所得到的数据型态与上一个比较器所比较的数据型态是否一致;以及

一压缩数据产生器,用以产生压缩后的数据,其中当借由该判断器判断为不一致时,该压缩数据产生器产生一型态数据以及包含该型态数据的一致次数的压缩数据。

6.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,该压缩组件还包括一延伸器,用以将包含型态数据以及该型态数据的一致次数的被压缩的数据延伸为原本的数据。

7.如权利要求6所述的半导体存储装置,其特征在于,该压缩组件还包括:

一计数器,用以对包含被压缩的数据的一致次数进行减法运算;以及

一判断器,用以判断该计数器的计数值是否到达一预定值,其中直到借由该判断器判断是否到达该预定值为止,该延伸器产生该型态数据的连接。

8.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,该错误校正组件于该被压缩的数据添加全部为0或是全部为1的仿真数据。

9.如权利要求4所述的半导体存储装置,其特征在于,该型态数据为可变长度。

10.如权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于,该存储器阵列为NAND型存储器阵列。

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