[发明专利]一种提高传感器测量精度的方法在审
| 申请号： | 201410398541.4 | 申请日： | 2014-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN104154944A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 石晓玲;刘鹏;邹江波;郑帮林;陈青松;蔡治国;钟亮 | 申请（专利权）人： | 北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 庞静 |
| 地址： | 100076 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 传感器 测量 精度 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种提高传感器测量精度的方法，其特征在于：该方法通过以下步骤实现：
(1)建立被测量参数与温度、传感器输出值以及全温区标定系数的数学模型，所述数学模型如下：
式中，Y为被测量，X为传感器输出，Temp为温度，KTij为全温区标定系数，m为温度拟合阶数，n为被测量与传感器输出之间拟合阶数，m，n均为正整数。
(2)获取一个传感器的输出值Xr及当前温度tempr；
(3)将所获取的传感器输出值Xr和当前温度tempr代入步骤(1)的数学模型，计算得到待测量参数Yr。
2.根据权利要求1所述的一种提高传感器测量精度的方法，其特征在于：所述全温区标定系数KTij按以下方法计算：
(1)设定一组被测量Y及相应的传感器输出X，分别在Tp(p＝1～s)温度下进行该组被测量Y及传感器对应的输出X做n阶多项式拟合，分别获得Tp(p＝1～s)下对应的参数ki(i＝0～n)；
(2)从i＝0开始对ki及其对应温度Tp(p＝1～s)做m阶多项式拟合，获得高次项全温区标定系数KTij(i＝0,j＝0～m)，以此类推，对ki(i＝1～n)及其对应温度Tp(p＝1～s)做m阶多项式拟合，最终获得所有全温区标定系数KTij(i＝0～n,j＝0～m)。
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