[发明专利]液晶面板检测线路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板检测线路。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示装置(TFT-LCD)是目前的主流显示装置，其具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。

现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括壳体、设于壳体内的液晶面板及设于壳体内的背光模组(Backlight Module)。

常见的液晶面板的结构是由一彩色滤光片基板(Color Filter，CF)、一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)、以及一配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成，其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，将背光模组提供的光线折射出来产生图像。

在液晶面板生产过程的末端，需要对面板内部线路进行检测，及时发现问题并进行修复，该过程称为面板测试(Cell Test)。现有技术中使用较为广泛的面板检测方式如图1所示，面板显示区内设置有多条相互垂直的栅极线100与信号线200，每一栅极线100电性连接位于液晶面板显示区外围的一栅极焊接部(Gate Bonding Pad)300，每一信号线200电性连接位于液晶面板显示区外围的一源极焊接部(Source Bonding Pad)400，所述栅极焊接部300、源极焊接部400分别通过其金属引脚310、410与栅极线测试短路杆(Shorting Bar)500、信号线测试短路杆600连接。进行面板测试时，分别向栅极线测试短路杆500、信号线测试短路杆600传送测试信号，以测试面板内部线路。面板测试结束后，需将所述金属引脚310、410采用激光切割(Laser Cut)的方式切断，这时覆盖在所述金属引脚310、410上面的绝缘层(SiNx)也会被同时打掉，在激光切割线700处留下一道沟槽，所述金属引脚310、410的残留部分的末端就会暴露在沟槽中，很容易受到腐蚀，而且腐蚀会一指延伸至栅极焊接部300、源极焊接部400及分别与二者连接的栅极线100、信号线200，造成面板工作信号的传输中断，导致面板显示异常。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶面板检测线路，使得面板检测后不再需要激光切割栅极焊接部与源极焊接部的金属引脚，杜绝由于金属引脚末端腐蚀而造成的面板显示不良问题，提升面板品质的同时，提高生产效率，降低生产成本。

为实现上述目的，本发明提供一种液晶面板检测线路，包括设于液晶面板显示区外围的多个栅极焊接部与源极焊接部、设于液晶面板显示区域外围的多条栅极线测试短路杆与信号线测试短路杆，栅极焊接部对应电性连接到栅极线测试短路杆，源极焊接部对应电性连接到信号线测试短路杆，在每一栅极焊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置至少一个第一TFT开关、在每一源极焊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置至少一个第二TFT开关，第一TFT开关的栅极连接于一第一控制信号线，第二TFT开关的栅极连接于一第二控制信号线；通过所述第一、第二控制信号线传送开关信号来分别控制所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线之间的连通或中断。

每一栅极焊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线，每一源极焊接部电性连接位于液晶面板显示区内的一信号线。

所述栅极线测试短路杆连接栅极线测试信号，所述信号线测试短路杆连接信号线测试信号；所述第一、第二控制信号线传送打开信号时，所述第一、第二TFT开关均导通，从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线之间连通，栅极线测试信号与信号线测试信号分别进入所述栅极线与信号线；所述第一、第二控制信号线传送关闭信号时，所述第一、第二TFT开关均断开，从而所述栅极线测试短路杆与栅极线之间及所述信号线测试短路杆与信号线之间中断。

所述关闭信号为第一TFT开关或第二TFT开关的栅极低电压或直接接地。

在每一栅极焊接部连接到栅极线测试短路杆的路径上设置一个第一TFT开关、在每一源极焊接部连接到信号线测试短路杆的路径上设置一个第二TFT开关。

所述第一TFT开关的源极连接栅极线测试短路杆，其漏极借由栅极焊接部与相应的栅极线连接；所述第二TFT开关的源极连接信号线测试短路杆，其漏极借由源极焊接部与相应的信号线连接。