[发明专利]液晶面板检测线路无效
| 申请号: | 201410391240.9 | 申请日: | 2014-08-08 |
| 公开(公告)号: | CN104111550A | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
| 发明(设计)人: | 吕启标 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液晶面板 检测 线路 | ||
1.一种液晶面板测试线路,包括设于液晶面板显示区外围的多个栅极焊接部(3)与源极焊接部(4)、设于液晶面板显示区域外围的多条栅极线测试短路杆(5)与信号线测试短路杆(6),栅极焊接部(3)对应电性连接到栅极线测试短路杆(5),源极焊接部(4)对应电性连接到信号线测试短路杆(6),其特征在于,在每一栅极焊接部(3)连接到栅极线测试短路杆(5)的路径上设置至少一个第一TFT开关(7),在每一源极焊接部(4)连接到信号线测试短路杆(6)的路径上设置至少一个第二TFT开关(8),第一TFT开关(7)的栅极连接于一第一控制信号线(9),第二TFT开关(8)的栅极连接于一第二控制信号线(10);通过所述第一、第二控制信号线(9、10)传送开关信号来分别控制所述栅极线测试短路杆(5)与栅极线(1)之间及所述信号线测试短路杆(6)与信号线(2)之间的连通或中断。
2.如权利要求1所述的液晶面板测试线路,其特征在于,每一栅极焊接部(3)电性连接位于液晶面板显示区内的一栅极线(1),每一源极焊接部(4)电性连接位于液晶面板显示区内的一信号线(2)。
3.如权利要求2所述的液晶面板测试线路,其特征在于,所述栅极线测试短路杆(5)连接栅极线测试信号,所述信号线测试短路杆(6)连接信号线测试信号;所述第一、第二控制信号线(9、10)传送打开信号时,所述第一、第二TFT开关(7、8)均导通,从而所述栅极线测试短路杆(5)与栅极线(1)之间及所述信号线测试短路杆(6)与信号线(2)之间连通,栅极线测试信号与信号线测试信号分别进入所述栅极线(1)与信号线(2);所述第一、第二控制信号线(9、10)传送关闭信号时,所述第一、第二TFT开关(7、8)均断开,从而所述栅极线测试短路杆(5)与栅极线(1)之间及所述信号线测试短路杆(6)与信号线(2)之间中断。
4.如权利要求3所述的液晶面板测试线路,其特征在于,所述关闭信号为第一TFT开关(7)或第二TFT开关(8)的栅极低电压或直接接地。
5.如权利要求2所述的液晶面板测试线路,其特征在于,在每一栅极焊接部(3)连接到栅极线测试短路杆(5)的路径上设置一个第一TFT开关(7);在每一源极焊接部(4)连接到信号线测试短路杆(6)的路径上设置一个第二TFT开关(8)。
6.如权利要求5所述的液晶面板测试线路,其特征在于,所述第一TFT开关(7)的源极连接栅极线测试短路杆(5),其漏极借由栅极焊接部(3)与相应的栅极线(1)连接;所述第二TFT开关(8)的源极连接信号线测试短路杆(6),其漏极借由源极焊接部(4)与相应的信号线(2)连接。
7.如权利要求2所述的液晶面板测试线路,其特征在于,在每一栅极焊接部(3)连接到栅极线测试短路杆(5)的路径上设置两个第一TFT开关(7);在每一源极焊接部(4)连接到信号线测试短路杆(6)的路径上设置两个第二TFT开关(8)。
8.如权利要求7所述的液晶面板测试线路,其特征在于,在每一路径上的两个第一TFT开关(7)中,一个第一TFT开关(7)的源极连接栅极线测试短路杆(5),且该一个第一TFT开关(7)的漏极连接另一第一TFT开关(7)的源极,该另一第一TFT开关(7)的漏极借由栅极焊接部(3)与相应的栅极线(1)连接;在每一路径上的两个第二TFT开关(8)中,一个第二TFT开关(8)的源极连接信号线测试短路杆(6),且该一个第二TFT开关(8)的漏极连接另一第二TFT开关(8)的源极,该另一第二TFT开关(8)的漏极借由源极焊接部(4)与相应的信号线(2)连接。
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