[发明专利]封装结构及其制法有效

专利信息
申请号: 201410383922.5 申请日: 2014-08-05
公开(公告)号: CN105304582B 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 邱志贤;钟兴隆;张卓兴;陈嘉扬;杨超雅 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L21/50
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 封装 结构 及其 制法
【说明书】:

一种封装结构及其制法,封装结构,包括:承载件、设于该承载件上的电子元件、包覆该电子元件的封装层、形成于该封装层上的一第一屏蔽层、以及形成于该第一屏蔽层上的至少一第二屏蔽层,且该第一屏蔽层与该第二屏蔽层为不同材质,藉由在该封装层上形成多层屏蔽层,以避免该电子元件受电磁波干扰。

技术领域

发明涉及一种封装结构,尤指一种具防电磁波干扰的封装结构及其制法。

背景技术

随着电子产业的蓬勃发展,大部份的电子产品均朝向小型化及高速化的目标发展,尤其是通讯产业的发展已普遍运用整合于各类电子产品,例如行动电话(Cell phone)、膝上型电脑(laptop)等。然而上述的电子产品需使用高频的射频晶片,且射频晶片可能相邻设置数位积体电路、数位讯号处理器(Digital Signal Processor,简称DSP)或基频晶片(BB,Base Band),造成电磁干扰(Electromagnetic Interference,简称EMI)产生的现象,因此必需进行电磁屏蔽(Electromagnetic Shielding)处理。

现有避免EMI的射频(Radio frequency,简称RF)模组,如图1A至图1C所示,该射频模组1用于将多个射频晶片11a,11b与非射频式电子元件11电性连接在一封装基板10上,再以如环氧树脂的封装层13包覆各该射频晶片11a,11b与该非射频式电子元件11,并于该封装层13上形成一金属薄膜14。该射频模组1藉由该封装层13保护该射频晶片11a,11b、非射频式电子元件11及封装基板10,并避免外界水气或污染物的侵害,且藉由该金属薄膜14保护该些射频晶片11a,11b免受外界EMI影响。

惟,现有射频模组1的外围虽可藉由包覆该金属薄膜14以达到避免EMI的目的,但若射频晶片11a,11b如为低频元件,则单一金属薄膜14作为屏障层难以防止电磁干扰。

因此,如何克服现有技术的缺失,实为一重要课题。

发明内容

为克服现有技术的种种缺失,本发明提供一种封装结构及其制法,藉由在封装层上形成多层屏蔽层,以避免该电子元件受电磁波干扰。

本发明的封装结构,包括:一承载件;至少一电子元件,其设于该承载件上;封装层,其包覆该电子元件;一第一屏蔽层,其形成于该封装层上;以及至少一第二屏蔽层,其形成于该第一屏蔽层上,且该第一与第二屏蔽层为不同材质所形成。

本发明还提供一种封装结构的制法,包括:提供一封装体,该封装体具有一承载件、设于该承载件上的至少一电子元件及包覆该电子元件的封装层;形成一第一屏蔽层于该封装层上;以及形成至少一第二屏蔽层于该第一屏蔽层上,且该第一屏蔽层与该第二屏蔽层为不同材质所形成。

前述的制法中,当该封装体具有多个该电子元件时,该封装体定义有多个封装单元,且各该封装单元具有至少一该电子元件。因此,还包括先形成多个沟道于各该封装单元之间;再形成该第一屏蔽层于该封装层上与各该沟道中;沿各该沟道进行切单制程,以分离各该封装单元,且该第一屏蔽层保留于各该封装单元上;以及之后形成该第二屏蔽层于该第一屏蔽层上。

前述的封装结构及其制法中,该电子元件为射频晶片。

前述的封装结构及其制法中,形成该第一屏蔽层的材质为绝缘材或导电材,且形成该第二屏蔽层的材质为导体材。

前述的封装结构及其制法中,该沟道贯穿该封装层、或该沟道延伸至该承载件内,例如,该第一屏蔽层复沿该沟道的表面形成、或该第一屏蔽层填满该沟道。因此,该第一屏蔽层复延伸至该承载件上,且该承载件的边缘成为阶梯部,而该第一屏蔽层复覆盖该阶梯部,使该第一屏蔽层对应该阶梯部之处呈现阶梯状、或该第一屏蔽层的侧表面齐平该承载件的侧表面。

由上可知,本发明的封装结构及其制法,藉由该封装层上形成第一与第二屏蔽层的多个屏蔽层,以提升屏蔽功效,所以可避免该电子元件受外部电磁波干扰的问题。

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