[发明专利]一种基于PAD控制多路信号测试的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，具体涉及一种基于PAD控制多路信号测试的方法及系统。

背景技术

集成电路产品研发和换代周期较短。按照摩尔定律，集成芯片上所集成的电路数目，微处理器的性能，每隔一个周期就翻一番；可比单位货币所能购买到的电脑性能，每隔一个周期就翻两番。芯片制造商要以最短时间，尽其所能，开发新技术，将技术标准更新换代，以实现产品性价比迅速优化，并大规模锁定消费者群体，乃至防止自身技术标准锁定的消费者、使用者群体流失到竞争厂商那儿去。

在整个集成电路产品的研发过程中，需要从降低成本和减少研发周期入手。而要减少研发周期，在测试阶段就需要在一次流片中测到大量的信号，确保下次流片可以解决所有问题。而要测试到大量的信号，就需要把这些信号都用集成电路中的压焊块(PAD)引出来，PAD是连接集成电路内部电路和外部电路封装引脚Pin的中间节点。现有的PAD一般实现点对点模式，由一路PAD引出一路测试信号到测试端实现测试，如果将多个PAD封装在一起来引出多路测试信号，会导致PAD的版图面积过大，不但会增加成本，而且大量的PAD会导致封装困难，测试困难等问题。

发明内容

针对现有PAD无法引出多路信号测试的问题，本发明提供了一种基于PAD控制多路信号测试的方法和PAD及系统，通过可变寄存器来控制多路测试信号单向通过PAD来实现多路测试信号的测试。

本发明提供了一种基于PAD控制多路信号测试的方法，包括如下步骤：

基于多路信号源设置多选一逻辑门可控电路，所述多选一逻辑门可控电路由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成；

将多路测试信号接入到多选一逻辑门可控电路的可控开关上；

基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD；

PAD输出单向输出的测试信号到测试端。

所述多路测试信号为数字信号或者模拟信号。

所述可变寄存器可控制的多路信号源的路数为2ⁿ⁺¹。

所述基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD还包括：

将多路测试信号中单向输出的测试信号基于缓冲器输出到PAD。

相应的，本发明还提供了一种基于PAD测试的系统，包括：

可变寄存器，用于输出数字控制源控制着连接到多选一逻辑门可控电路上的多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD；

多选一逻辑门可控电路，包括由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成，多选一逻辑门可控电路中的每一可控开关可接入一路测试信号，用于受控于可变寄存器的控制，接通测试信号输入到PAD上；

PAD，用于接收多选一逻辑门可控电路输入的测试信号，并输出到测试端。

所述多路测试信号为数字信号或者模拟信号。

所述可变寄存器可控制的多路信号源的路数为2ⁿ⁺¹。

所述系统还包括缓冲器，所述缓冲器位于PAD和多选一逻辑门可控电路的通路上，将多选一逻辑门可控电路中单向输出的信号输出到PAD。

本发明实施例由一个可变寄存器[n:0]控制着多选一电路，根据非门、或非门和与非门的组合可有2ⁿ⁺¹种配置，每种配置对应一个可控开关，每个可控开关的一端接同一个输出而另一端接不同的测试信号。不同的配置打开不同的开关，使得输出信号在配置不同时而有所不同，从而可以达到一个PAD可以测到多个测试信号的效果。通过可变寄存器来选择需要测试的信号，可以大大缩小了版图面积，更是让测试更加便利，节约了投片和测试的成本，大大提高了测试力度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明实施例中的基于PAD控制多路信号测试的方法流程图；

图2是本发明实施例中的八选一的多选一逻辑门可控电路的结构示意图；

图3是本发明实施例中的缓冲器结构示意图；

图4是本发明实施例中的基于PAD的测试系统结构示意图。

具体实施方式