[发明专利]一种基于PAD控制多路信号测试的方法及系统在审
| 申请号: | 201410375296.5 | 申请日: | 2014-07-31 |
| 公开(公告)号: | CN104155598A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
| 发明(设计)人: | 丁一;吴劲;胡建国;段志奎;王德明;郝志刚 | 申请(专利权)人: | 中山大学;广州中大数码科技有限公司;广州中大微电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/3177 | 分类号: | G01R31/3177 |
| 代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址: | 510000 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 pad 控制 信号 测试 方法 系统 | ||
1.一种基于PAD控制多路信号测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:
基于多路信号源设置多选一逻辑门可控电路,所述多选一逻辑门可控电路由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成;
将多路测试信号接入到多选一逻辑门可控电路的可控开关上,每一路测试信号接入一路可控开关;
基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD;
PAD输出单向输出的测试信号到测试端。
2.如权利要求1所述的基于PAD控制多路信号测试的方法,其特征在于,所述多路测试信号为数字信号或者模拟信号。
3.如权利要求1所述的基于PAD控制多路信号测试的方法,其特征在于,所述可变寄存器可控制的多路信号源的路数为2n+1。
4.如权利要求1至3任一项所述的基于PAD控制多路信号测试的方法,其特征在于,所述基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD还包括:
将多路测试信号中单向输出的测试信号基于缓冲器输出到PAD。
5.一种基于PAD测试的系统,其特征在于,包括:
可变寄存器,用于输出数字控制源控制着连接到多选一逻辑门可控电路上的多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD;
多选一逻辑门可控电路,包括由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成,多选一逻辑门可控电路中的每一可控开关可接入一路测试信号,用于受控于可变寄存器的控制,接通测试信号输入到PAD上;
PAD,用于接收多选一逻辑门可控电路输入的测试信号,并输出到测试端。
6.如权利要求5所述的基于PAD测试的系统,其特征在于,所述多路测试信号为数字信号或者模拟信号。
7.如权利要求5所述的基于PAD测试的系统,其特征在于,所述可变寄存器可控制的多路信号源的路数为2n+1。
8.如权利要求5至7任一项所述的基于PAD测试的系统,其特征在于,所述系统还包括缓冲器,所述缓冲器位于PAD和多选一逻辑门可控电路的通路上,将多选一逻辑门可控电路中单向输出的信号输出到PAD。
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