[发明专利]带有T机构的单色分光系统在审
申请号: | 201410374067.1 | 申请日: | 2014-07-31 |
公开(公告)号: | CN104122667A | 公开(公告)日: | 2014-10-29 |
发明(设计)人: | 周旭;刘聪展 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G02B27/10 | 分类号: | G02B27/10;G02B27/42 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 孟阿妮 |
地址: | 100049 北京市石景山*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 机构 单色 分光 系统 | ||
技术领域
本发明涉及同步辐射技术,尤其涉及一种带有T机构的单色分光系统。
背景技术
基于布拉格衍射原理,通过改变入射光线衍射晶面夹角(即布拉格角)来选择不同波长光束,进行分光。以X光机或同步辐射光作为布拉格衍射的入射光源为例,为了从连续光谱中分离出单色光,双晶体单色器是常用关键部件。双晶体单色器要求两衍射面具有相同晶面指数并严格晶面平行,通过转动双晶体角度,可以使出射光束位置固定。
现有双晶体单色器常用Si111等低指数晶面的晶体做分光,要想分出高能量的单色光需要将布拉格角度变小,即对应着的两块晶体间的垂直距离变小,这样容易将入射光束的部分光被最终探测单色光的探测器接收到,增加了单色光本底。同时,为了让布拉格角度更小,需要入射光束的尺寸尽量变小,这样影响可单色光的通量。
发明内容
本发明提供一种带有T机构单色分光系统,用于解决现有技术中无法有效从目标光线中分离高能量的单色光的技术问题。
本发明实施例提供一种带有T机构单色分光系统,包括:带有T机构的单色分光器、入射光机和探测器,其特征在于:
所述带有T机构的单色分光器采用晶向指数为[551]的硅晶体制成;
所述带有T机构的单色分光器接收所述入射光机发出的入射光线,并将所述入射光线经过布拉格衍射后,岀射到所述探测器上,以实现对所述入射光线进行单色分光。
本发明提供带有T机构单色分光系统,通过采用晶向指数为[551]的硅晶体作为单色器,即采用较小的晶格间距来作为布拉格衍射原理中的距离d,从而可有效分离出目标入射光线中能量较高的单色光。
附图说明
图1为本发明提供的带有T机构的单色分光系统一个实施例的结构示意图;
图2为本发明提供的带有T机构的单色分光器的一个实施例的结构示意图。
图3为本发明提供的带有T机构的单色分光系统另一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
图1为本发明提供的带有T机构的单色分光系统一个实施例的结构示意图。如图1所示,该带有T机构的单色分光系统具体包括:
带有T机构的单色分光器11、入射光机12和探测器13;其中:带有T机构的单色分光器11采用晶向指数为[551]的硅晶体制成;带有T机构的单色分光器11接收入射光机12发出的入射光线,并将入射光线经过布拉格衍射后,岀射到探测器13上,以实现对入射光线进行单色分光。
具体的,上述带有T机构的单色分光器11中涉及的T机构可以为现有技术中已经应用的各种T机构,本实施例中T机构适用现有T机构的所有功能和操作,在此对其原理和操作方法不做赘述。上述带有T机构的单色分光器11是指与现有T机构配合使用且主要通过布拉格衍射原理实现对入射光线进行分光的硅晶体。本实施例中该硅晶体具体为晶向指数为[551]的硅晶体。晶向指数为[551]的硅晶体,其晶格间距d为0.076nm,远小于通常使用的晶向为[111]的硅晶体的晶格间距即0.313nm,由布拉格衍射公式:2dsinθ=nλ,可知,当布拉格角θ固定时,d越小,可以衍射出的单色光的波长λ越小,衍射出的单色光的能量越大。
在具体操作过程中,可通过上述带有T机构的单色分光器11接收上述入射光机12发出的入射光线,并将该入射光线经过上述晶向指数为[551]的硅晶体的布拉格衍射后,岀射到上述探测器13上,以实现对上述入射光线进行单色分光。通过调节入射光线与上述晶向指数为[551]的硅晶体的表面间形成的入射角θ,来选择所需分出的固定能量的单色光。
进一步的,如图2所示,本实施例给出了带有T机构的单色分光系统中带有T机构的单色分光器11的一种具体的实现结构示意图。具体的,上述带有T机构的单色分光器11可以为采用两个晶向指数均为[551]的硅晶体制成的双晶单色分光器;其中,上述两个硅晶体相对的两个表面相互平行,且该两个表面分别与各自硅晶体内的晶向指数[551]所对应的方向平行;该两个硅晶体相对的两个表面与上述入射光线成θ角度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410374067.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种三维显示装置
- 下一篇:时间域激电全波形采样的多参数提取数据处理方法