[发明专利]带有T机构的单色分光系统在审
| 申请号： | 201410374067.1 | 申请日： | 2014-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN104122667A | 公开（公告）日： | 2014-10-29 |
| 发明（设计）人： | 周旭;刘聪展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G02B27/10 | 分类号： | G02B27/10;G02B27/42 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮 |
| 地址： | 100049 北京市石景山*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 带有 机构 单色 分光 系统 | ||
1.一种带有T机构的单色分光系统，包括：带有T机构的单色分光器、入射光机和探测器，其特征在于：
所述带有T机构的单色分光器采用晶向指数为[551]的硅晶体制成；
所述带有T机构的单色分光器接收所述入射光机发出的入射光线，并将所述入射光线经过布拉格衍射后，岀射到所述探测器上，以实现对所述入射光线进行单色分光。
2.根据权利要求1所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于：
所述带有T机构的单色分光器具体为采用两个晶向指数均为[551]的硅晶体制成的双晶单色分光器；其中，所述两个硅晶体相对的两个表面相互平行，且该两个表面分别与各自所述硅晶体内的晶向指数[551]所对应的方向平行；所述两个硅晶体相对的两个表面与所述入射光线成θ角度。
3.根据权利要求2所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，所述θ角度的大小为3°。
4.根据权利要求1所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，还包括：
依次套接在所述入射光机的出光口位置的第一准直管和第一光阑；以及依次套接在所述探测器的入光口位置的第二准直管和第二光阑。
5.根据权利要求4所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，所述套接在所述入射光机的出光口位置侧的所述第一光阑的直径为2mm；所述套接在所述探测器的入光口位置侧的所述第二光阑的直径为5mm。
6.根据权利要求1所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，所述探测器具体为NaI/CsI复合晶体探测器。
7.根据权利要求1-6任一项所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，还包括：
分别设置在所述入射光机和所述探测器外围的屏蔽罩。
8.根据权利要求1-6任一项所述的带有T机构的单色分光系统，其特征在于，所述入射光线为X光线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所，未经中国科学院高能物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410374067.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种三维显示装置
- 下一篇：时间域激电全波形采样的多参数提取数据处理方法
