[发明专利]一种高精度高可靠快速响应热敏芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410371079.9 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104198079A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 陈文廷;段兆祥;杨俊;柏琪星;唐黎民;叶建开 申请(专利权)人: 肇庆爱晟电子科技有限公司
主分类号: G01K7/22 分类号: G01K7/22
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 华辉;曹爱红
地址: 526020 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 可靠 快速 响应 热敏 芯片 及其 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明属于热敏芯片产品技术领域,特别涉及一种高精度高可靠快速响应热敏芯片及其制作方法。

背景技术

随着电子技术的发展,电子元器件将会向着高精度、高可靠、快速响应、微型化的方向发展。SMT技术日益要求电子元器件的表面贴装化。热敏芯片作为电子元器件具有不可比拟的优越性:安装方便效率极高、无引线-无寄生电感、电极在环氧或玻璃封装层内-可靠性更高。

热敏芯片作为核心部件,采取不同封装形式构成的热敏电阻和温度传感器广泛应用于各种温度探测、温度补偿、温度控制电路,其在电路中起到将温度的变量转化成所需的电子信号的核心作用。

由于热敏芯片的广泛应用,为满足人们对电子技术快速体验的需求,这就要求热敏芯片高精度、高可靠、快速响应。

现有技术中,热敏芯片的制作方法是:热敏半导体陶瓷基片制备―印刷金属电极层―划片―热敏芯片,该方法制作而成的热敏芯片存在如下不足之处:

(1)工作时响应不够快:现有可焊接CP线和漆包线的热敏芯片或可测试阻值的热敏芯片其响应时间2秒以上,响应所需时间长;

(2)阻值精度难以控制:用半导体划切工艺划切热敏芯片,划切尺寸越小时,阻值误差越大,即阻值精度难以控制,而且尺寸越小越难以测试热敏芯片阻值。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足,具体公开一种高精度高可靠快速响应热敏芯片,该热敏芯片能实现快速响应,阻值精度能精确控制,精度高,同时其玻璃保护层的保护性,使得热敏芯片具有高可靠性。

为了克服上述技术目的,本发明是按以下技术方案实现的:

本发明所述的一种高精度高可靠快速响应热敏芯片,包括热敏半导体陶瓷基片,所述热敏半导体陶瓷基片的两表面上间隔的喷涂并烧结有玻璃保护层,在该带有玻璃保护层的半导体陶瓷基片的两表面印刷有金属电极层。

作为上述技术的进一步改进,所述玻璃保护层间隔设置,所述热敏半导体陶瓷基片两表面的玻璃保护层对应设置。

在本发明中,所述金属电极层为金电极或银电极。

本发明还公开了一种高精度高可靠快速响应热敏芯片的制作方法,其具体步骤是:

(1)制作热敏半导体陶瓷基片;

(2)喷涂玻璃保护层:在上述热敏半导体陶瓷基片的两表面对应的喷涂玻璃粉液以形成玻璃保护层,所述玻璃保护层在热敏半导体陶瓷基片的每一表面均为间隔设置;

(3)烧结玻璃保护层:将上述喷涂有玻璃保护层的热敏半导体陶瓷基片进行烧结:

(4)印刷金属电极层:在上述有玻璃保护层的热敏半导体陶瓷基片的两表面印刷金属浆料并烧结成金属电极层;

(5)划片:按照规定的尺寸规格将上述带有玻璃保护层和金属电极层的热敏半导体陶瓷基片划切成方片状;

(6)制得热敏芯片。

作为上述制作方法的进一步改进,上述步骤(2)喷涂玻璃保护层包括:

(2a)装配:将热敏半导体陶瓷基片装配到隔板上,使不需要喷涂玻璃的区域通过隔板隔离开;

(2b)喷涂玻璃:用喷头将调配好的玻璃粉液均匀喷涂在装配好的热敏半导体陶瓷基片上下两表面。

作为上述制作方法的更进一步改进,上述步骤(3)所述的烧结玻璃保护层具体是:取下隔板,将喷涂好的热敏半导体陶瓷基片在一定的温度下进行烧结,使玻璃粉融化,使得玻璃与热敏半导体陶瓷基片紧密结合,具体来说,所述玻璃保护层的烧结温度范围是600~650℃。

作为上述制作方法的更进一步改进,上述步骤(4)所述的印刷金属电极层包括以下步骤:

(4a)印刷金属浆料:采用印刷设备将金属浆料均匀印刷在带有玻璃保护层的热敏半导体陶瓷基片上下两表面;

(4b)烧结金属电极层:在一定的温度下进行烧结,使金属电极层与玻璃保护层、热敏半导体陶瓷层紧密结合,所述金属电极层的烧结温度是950~1100℃。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

(1)快速响应:本发明由于在热敏半导体陶瓷基片的表面设有间隔的玻璃保护层,间隔设置的玻璃保护层将热敏基片表面分隔成有玻璃保护层的非导电区和没有玻璃保护层的导电区,从而使得热敏芯片工作时,当热敏芯片通电时,电流快速流通导电区,减少流通非导电区(即减少电流流通整个芯片),同时只要热敏芯片的导电区感应到环境温度,热敏芯片就快速体现阻值了;

(2)高精度:本发明的热敏芯片可以有效避免热敏芯片尺寸划切越小时其阻值误差越大,增加热敏芯片尺寸,也便于采用设备测试阻值,从而有效提高阻值精度;

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