[发明专利]使用两个引线框架组装的半导体装置有效
| 申请号: | 201410357286.9 | 申请日: | 2014-06-04 |
| 公开(公告)号: | CN105336631B | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
| 发明(设计)人: | 王欢;刘赫津;孙维萍 | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/495 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
| 地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 两个 引线 框架 组装 半导体 装置 | ||
1.一种制造封装的半导体装置的方法,所述方法包括:
(a)通过将片芯接合到第一引线框架的顶表面而形成包括安装在第一引线框架上的片芯的子组件;和
(b)通过将第二引线框架的顶表面电附连到第一引线框架的暴露的底表面而将第二引线框架附接到所述子组件,其中第二引线框架提供用于所述封装的半导体装置的引线。
2.如权利要求1所述的方法,其中步骤(a)包括:
使用接合线引线将所述片芯接合到第一引线框架;和
使用模制料包封所述片芯和接合线。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述第二引线框架的所述引线在步骤(b)之前被弯曲。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述被弯曲的引线是鸥翼引线,其延伸不超过所述封装的半导体装置的周界。
5.如权利要求1所述的方法,其中:
所述第一引线框架是第一引线框架阵列的一部分,所述第一引线框架阵列包括通过第一支撑结构互连的第一引线框架的多个实例;
所述第二引线框架是第二引线框架阵列的一部分,所述第二引线框架阵列包括通过第二支撑结构互连的第二引线框架的多个实例;
所述子组件包括在所述第一引线框架阵列的每一个第一引线框架上安装的片芯;
步骤(b)包括将所述第二引线框架阵列附接到所述子组件;和
所述方法进一步包括在步骤(b)之后执行单颗化工艺以形成多个分离的封装的半导体封装的实例。
6.一种封装的半导体装置,包括:
第一引线框架;
通过接合到第一引线框架的顶表面而安装在所述第一引线框架上的片芯;和
通过将第二引线框架的顶表面电附连到第一引线框架的暴露的底表面而附接到所述第一引线框架的第二引线框架,其中所述第二引线框架提供用于所述封装的半导体装置的引线。
7.如权利要求6所述的封装的半导体装置,其中:
所述片芯被用接合线电连接到所述第一引线框架;和
所述片芯和接合线被包封在模制料内。
8.如权利要求6所述的封装的半导体装置,其中所述第二引线框架的引线被弯曲。
9.如权利要求8所述的封装的半导体装置,其中所述被弯曲的引线是鸥翼引线,其延伸不超过所述封装的半导体装置的周界。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





