[发明专利]固态成像器件、固态成像方法以及电子装置

说明书

一种固态成像器件包括像素阵列和像素值校正单元。该像素阵列包括多个像素，该多个像素的每一个具有不同曝光时间和不同曝光灵敏度之一以及按照预定规则来布置。该像素值校正单元被配置成在从该像素阵列中的多个像素中获得的像素值当中，通过使用多个像素的另一个像素的像素值校正适合预设条件的多个像素的一个像素的像素值。

相关申请的交叉引用

本申请要求2013年7月11日提交的日本优先权专利申请JP2013-145913的权益，在此通过引用并入其全部内容。

技术领域

本公开涉及固态成像器件、固态成像方法以及电子装置，尤其涉及在能够在高动态范围中捕获图像的图像传感器中能够进行有效缺陷校正处理的固态成像器件、固态成像方法以及电子装置。

背景技术

过去，已经在从图像传感器输出的图像信号中校正了与有缺陷像素有关的像素信号。

有缺陷像素通常被分类成过度曝光加亮(有白点缺陷像素)和阻挡阴影(有黑点缺陷像素)。过度曝光加亮(有白点缺陷像素)恒定地输出具有极大值的像素信号。阻挡阴影(有黑点缺陷像素)恒定地输出具有极小值的像素信号。与这样的有缺陷像素有关的像素信号的校正处理，即，缺陷校正处理通过根据位于有缺陷像素周围的像素的像素信号计算和生成有缺陷像素的像素信号来进行。

进一步，例如，在拜耳(Bayer)阵列的像素阵列中，还提出了从颜色与有缺陷像素相同的像素中选择要用于有缺陷像素的校正的像素的技术(参见，例如，日本已公开专利申请第2010-130238号)。

此外，近年来，已经提出了放大图像传感器的动态范围的方法。例如，已经开发出了通过依照拜耳阵列的像素阵列中的像素的位置改变曝光时间，在高动态范围中获取图像的技术，所述高动态范围中的图像从低亮度的像素到高亮度的像素适当地显示。这样的高动态范围图像捕获方法包括SVE(随空间变化曝光)方法等。

发明内容

但是，在现有技术中校正有缺陷像素时，未考虑SVE方法的图像传感器的缺陷校正处理。

本公开就是鉴于这样的情况而作出的，希望允许能够在高动态范围中捕获图像的图像传感器可以进行有效缺陷校正处理。

按照本公开的第一实施例，提供了一种固态成像器件，其包括像素阵列和像素值校正单元。该像素阵列包括多个像素，该多个像素的每一个具有不同曝光时间和不同曝光灵敏度之一以及按照预定规则来布置。该像素值校正单元被配置成在从该像素阵列中的多个像素中获得的像素值当中，通过使用多个像素的另一个像素的像素值校正适合预设条件的多个像素的一个像素的像素值。

该像素阵列可以包括每一个具有相同曝光时间和相同曝光灵敏度之一以及逐行规则布置的多个像素。

该像素阵列可以包括多个像素，该多个像素包括每一个具有相同曝光时间和相同曝光灵敏度之一以及被规则布置成L形的一群像素的预定个像素。

该像素值校正单元可以被配置成将布置在该像素阵列中的多个像素中的一个感兴趣像素设置成该像素阵列的中心，提取包括预设个像素行的处理单位区域，以及为每个处理单位区域校正该感兴趣像素的像素值。

该处理单位区域可以包括五行。

该像素值校正单元可以包括饱和性确定单元、平坦性确定单元、方向检测单元、缺陷确定单元和缺陷校正单元。该饱和性确定单元可以被配置成根据该处理单位区域的像素当中输出最大像素值的像素的数量确定该处理单位区域是否达到饱和。该平坦性确定单元可以被配置成确定由该处理单位区域的像素形成的图像是否是无纹理的平坦图像。该方向检测单元可以被配置成当确定由该处理单位区域的像素形成的图像不是平坦图像时检测纹理的方向。该缺陷确定单元可以被配置成确定该感兴趣像素是否是有缺陷像素。该缺陷校正单元可以被配置成当确定该感兴趣像素是有缺陷像素时校正该感兴趣像素的像素值。