[发明专利]固态成像器件、固态成像方法以及电子装置有效
申请号: | 201410317407.7 | 申请日: | 2014-07-04 |
公开(公告)号: | CN104284105B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 藤田和英;冈村健太郎 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 黄玫 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 像素阵列 像素值校正单元 固态成像器件 曝光灵敏度 像素值校正 电子装置 固态成像 预定规则 预设条件 曝光 配置 | ||
1.一种固态成像器件,包含:
包括多个像素的像素阵列,该多个像素的每一个具有不同曝光时间或不同曝光灵敏度并且逐行规则布置;以及
像素值校正单元,其被配置成在从该像素阵列中的多个像素中获得的像素值当中,通过使用多个像素中的另一个像素的像素值校正适合预设条件的多个像素的一个像素的像素值。
2.按照权利要求1所述的固态成像器件,其中
该像素阵列包括多个像素,该多个像素的每一个包括具有相同曝光时间或相同曝光灵敏度并且被规则布置成L形的一群像素的预定个像素。
3.按照权利要求1所述的固态成像器件,其中
该像素值校正单元被配置成将布置在该像素阵列中的多个像素中的一个感兴趣像素设置成该像素阵列的中心,提取包括预设个像素行的处理单位区域,以及为每个处理单位区域校正该感兴趣像素的像素值。
4.按照权利要求3所述的固态成像器件,其中
该处理单位区域包括五行。
5.按照权利要求3所述的固态成像器件,其中
该像素值校正单元包括
饱和性确定单元,其被配置成根据该处理单位区域的像素当中输出最大像素值的像素的数量确定该处理单位区域是否达到饱和;
平坦性确定单元,其被配置成确定由该处理单位区域的像素形成的图像是否是无纹理的平坦图像;
方向检测单元,其被配置成当确定由该处理单位区域的像素形成的图像不是平坦图像时检测纹理的方向;
缺陷确定单元,其被配置成确定该感兴趣像素是否是有缺陷像素;以及
缺陷校正单元,其被配置成当确定该感兴趣像素是有缺陷像素时校正该感兴趣像素的像素值。
6.按照权利要求5所述的固态成像器件,其中
依照该饱和性确定单元的确定结果,将该平坦性确定单元配置成确定该图像是否是平坦图像,以及将该方向检测单元配置成检测纹理的方向。
7.按照权利要求6所述的固态成像器件,其中
依照该平坦性确定单元的确定结果,将该缺陷确定单元配置成确定该感兴趣像素是否是有缺陷像素,以及将该缺陷校正单元配置成校正该感兴趣像素的像素值。
8.按照权利要求7所述的固态成像器件,其中
该缺陷校正单元被配置成当确定由该处理单位区域的像素形成的图像不是平坦图像时,通过用根据纹理的检测方向选择的像素的像素值取代该感兴趣像素的像素值来校正该感兴趣像素的像素值。
9.按照权利要求8所述的固态成像器件,其中
在该像素阵列包括多个像素,该多个像素的每一个包括具有相同曝光时间或相同曝光灵敏度并且被规则布置成L形的一群像素的预定个像素的情况下,以及当纹理的检测方向是垂直方向时,将该缺陷校正单元配置成通过线性内插生成根据纹理的方向选择的像素的像素值。
10.按照权利要求9所述的固态成像器件,其中
该缺陷校正单元被配置成根据依据通过线性内插生成的像素值确定的混合比,混合通过线性内插生成的像素值和该感兴趣像素的像素值。
11.按照权利要求5所述的固态成像器件,进一步包含:
增益相加单元,其被配置成将该处理单位区域的像素当中,具有第一曝光时间的像素的像素值乘以预定增益,从而将具有第二曝光时间的像素的像素值作为参考,归一化该处理单位区域的像素的像素值。
12.按照权利要求1所述的固态成像器件,其中
该固态成像器件包括分层式图像传感器,其包括
布置像素阵列的第一芯片;以及
包括实现该像素值校正单元的功能的电路的第二芯片。
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