[发明专利]TE模介质谐振腔、滤波器及滤波方法

说明书

本发明公开了TE模介质谐振腔、滤波器及滤波方法，该TE模介质谐振腔包括谐振腔主体、内腔、以及位于所述内腔的谐振子，所述谐振子包括第一谐振子单元和第二谐振子单元，所述第一谐振子单元与第二谐振子单元之间具有介质层。本发明可以使TE模介质谐振腔的谐振子产生的二次谐波TM模的频率更加远离TE模基模，可以更容易将该二次谐波滤除，得到滤波质量较高的TE模介质滤波器。

【技术领域】

本发明涉及谐振腔领域，具体涉及TE模介质谐振腔、滤波器及滤波方法。

【背景技术】

滤波器是电子系统中的关键部件，用来完成频率选择功能。常用的滤波器有介质滤波器、腔体滤波器、集总滤波器等，介质滤波器因其具有较高的Q值(品质因数值)而被广泛应用。

但是，目前的TE模介质滤波器的性能并不是太好。

【发明内容】

经过研究发现，目前的TE模介质谐振腔的TE模基模频率与谐振子产生的二次谐波TM模的频率较为接近，这给滤除TE模介质谐振腔的二次谐波造成很大的困难。

为了克服现有技术的不足，本发明提供了TE模介质谐振腔、滤波器及滤波方法，使得TE模介质谐振腔的二次谐波TM模的频率更加远离TE模基模频率，从而使得更容易将该二次谐波滤除。

一种TE模介质谐振腔，包括谐振腔主体、内腔、以及位于所述内腔的谐振子，所述谐振子包括第一谐振子单元和第二谐振子单元，所述第一谐振子单元与第二谐振子单元之间具有介质层。

在一个实施例中，所述第一谐振子单元通过所述介质层支撑所述第二谐振子单元。

在一个实施例中，还包括支撑件，所述支撑件位于所述内腔内，所述支撑件用于支撑所述第一谐振子单元。

在一个实施例中，所述介质层是介电常数比所述谐振子的介电常数低的介质。

在一个实施例中，所述介质层是氧化硅、橡胶、聚乙烯或空气。

在一个实施例中，所述第一谐振子单元和第二谐振子单元的横截面是圆形、矩形或者环形。

在一个实施例中，所述介质层是环形状，所述第一谐振子单元、第二谐振子单元和介质层的中心轴重合。

在一个实施例中，所述谐振子包括多个谐振子单元，相邻的谐振子单元之间具有介质层。

在一个实施例中，所述介质层通过胶水固定在第一谐振子单元和第二谐振子单元上，或者，所述介质层通过烧结固定在第一谐振子单元和第二谐振子单元上。

在一个实施例中，第一谐振子单元和/或第二谐振子单元上设有导电几何结构。

本发明还提供了一种TE模介质滤波器，包括所述的TE模介质谐振腔、以及低通滤波器，所述TE模介质谐振腔的输出端与所述低通滤波器的输入端连接，所述低通滤波器用于滤除所述谐振子的二次谐波。

在一个实施例中，所述TE模介质滤波器具有多个TE模介质谐振腔。

本发明还提供了一种对TE模介质滤波器的二次谐波的滤波方法，其采用所述的TE模介质滤波器，包括如下步骤：

通过所述TE模介质谐振腔将TE模介质谐振腔的谐振子的二次谐波频率提高到设定频率；

通过所述低通滤波器对所述二次谐波进行滤除。

通过将谐振腔体内部的谐振子分成二个或以上的谐振子单元，谐振子单元之间存在介质层，从而使得TE模介质谐振腔的谐振子产生的二次谐波TM模的频率更加远离TE模基模，因而，可以更容易将该二次谐波滤除，得到滤波质量较高的TE模介质滤波器。

【附图说明】

图1是现有的TE模介质谐振腔的透视结构示意图及其TE模电场示意图；