[发明专利]用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法

说明书

本发明的用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，包括下述步骤：在承载有样品的支架上选取至少两个参照点。将承载有样品的支架放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N。计算由参照点A、B构成的直线与由观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α。将承载有样品的支架放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及参照点A、B和观测点N分别在第一观测平台和第二观测平台上构成的相似三角形的比例关系来定位样品中的所述观测点。由于该方法可以通过几何关系确定出观测点在第二观测平台下的位置，进而找出观测点，因此省事省力。

技术领域

本发明涉及一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法。

背景技术

在传统的地质研究中，通常需要先开展岩石薄片观察，然后再在此基础上进一步开展其他类型的测试分析工作。例如利用激光剥蚀-ICPMS法(激光剥蚀等离子体质谱法)进行裂变径迹定年研究时，需要先在显微镜下挑选适合定年的磷灰石矿物颗粒，之后再利用激光剥蚀观测平台统计分析该磷灰石矿物颗粒的磷含量和钍含量。

在一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法中，在显微镜下挑选好适合定年的磷灰石矿物颗粒后，再划分包含此磷灰石矿物颗粒的区域。待需要在激光剥蚀观测平台下研究时，在划分好的区域内逐个排除各颗粒，直至找出可进行研究的磷灰石矿物颗粒。此种跨观测平台转换方法使得需要将观测点放在不同观测平台下进行观测时费事费力。

因此，如何解决需要将观测点放在不同观测平台下进行观测时费事费力的问题，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，方便在不同观测平台下快速找到同一观测点。

本发明的用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，包括下述步骤：在承载有样品的支架上选取至少两个参照点，将承载有样品的支架放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N，计算由参照点A、B构成的直线与由观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α，将承载有样品的支架放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及由参照点A、B和观测点N分别在第一观测平台和第二观测平台上构成的相似三角形的比例关系来定位样品中的所述观测点。

在一个实施例中，在支架上构建第一观测平台的直角坐标系，并找出参照点A、B及观测点N的直角坐标，使得通过下式而得到α：

α＝arccos((L_AN2+L_AB2-L_BN2)/(2L_AN×L_AB))，

其中，L_AN为参照点A与观测点N之间的距离，L_AB为参照点A、B之间的距离，L_BN为观测点N与参照点B之间的距离。

在一个实施例中，所述比例关系通过距离L_AB与参照点A、B在第二观测平台下的距离L_AB′之比而得到。

在一个实施例中，所述观测点N与参照点A在第二观测平台下的距离L_AN′通过下式计算：L_AN′＝L_AB′/L_AB×L_AN，

并且通过以参照点A为极点，以直线AB为极轴的极坐标点(L_AN′，α)来在第二观测平台下定位样品中的所述观测点。

在一个实施例中，所述比例关系通过观测点N在直线AB的投影点N1和参照点A在第一观测平台下的距离L_AN1与参照点A、B在第一观测平台下的距离L_AB之比而得到。