[发明专利]用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法

权利要求书

1.一种用于在不同观测平台下定位样品中的观测点的方法，包括下述步骤：

在承载有样品的支架上选取至少两个参照点，

将承载有样品的支架放在第一观测平台上，确定样品中的观测点N，

计算由参照点A、B构成的直线与由观测点N和参照点A构成的直线之间的角度α，

将承载有样品的支架放在第二观测平台上，并且基于参照点A、B，根据角度α以及由参照点A、B和观测点N分别在第一观测平台和第二观测平台上构成的相似三角形的比例关系来定位样品中的所述观测点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在支架上构建第一观测平台下的直角坐标系，并找出参照点A、B及观测点N的直角坐标，使得通过下式而得到α：

α＝arccos((L_AN²+L_AB²-L_BN²)/(2L_AN×L_AB))，

其中，L_AN为参照点A与观测点N之间的距离，L_AB为参照点A、B之间的距离，L_BN为观测点N与参照点B之间的距离。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述比例关系通过距离L_AB与参照点A、B在第二观测平台下的距离L_AB′之比而得到。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述观测点N与参照点A在第二观测平台下的距离L_AN′通过下式计算：

L_AN′＝L_AB′/L_AB×L_AN，

并且通过以参照点A为极点，以直线AB为极轴的极坐标点(L_AN′，α)来在第二观测平台下定位样品中的所述观测点。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比例关系通过观测点N在直线AB的投影点N1和参照点A在第一观测平台下的距离L_AN1与参照点A、B在第一观测平台下的距离L_AB之比而得到。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，投影点N1在第二观测平台下的距离L_AN1′通过下式计算：

L_AN1′＝L_AB′/L_AB×L_AN1，

并且通过直线AB和角度α找出观测点所在的直线以及经过投影点N1并垂直于直线AB的直线在第二观测平台下定位样品中的所述观测点，

其中，L_AB′为参照点A、B在第二观测平台下的距离。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，参照点A、B位于所述支架的对角位置。

8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一观测平台为显微镜，而所述第二观测平台为激光剥蚀观测平台。

9.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述样品为岩石薄片。