[发明专利]放电保护电路及其控制方法

说明书

本发明公开了一种放电保护电路及其控制方法，其中放电保护电路，包括：电芯组合，电芯组合包括一个以上的电芯，供电电路、输出电路、MCU芯片、电压检测电路、NTC电路、电流检测路、驱动电路和一个驱动开关；供电电路、输出电路和电芯组合构成串连，MCU芯片分别与电压检测电路、驱动电路、电流检测电路构成电连接，电压检测模块分别与电芯组合和NTC电路构成电连接；该控制方法至少包括一个使放电保护电路以每小时0.2倍标称电量进行放电的放电过程，并且该过程中，MCU芯片进行周期性的休眠；本发明的有益之处在于：通过周期性的使MCU芯片休眠，在实现电池包放电保护的基础上同时也实现了降低控制功耗提高放电电量的目的。

技术领域

本发明涉及一种电路及其控制方法，具体涉及一种放电保护电路及其控制方法。

背景技术

在由电池包和电动工具构成放电电路中，尤其是多电芯、高电压、发热量大的电池包组成的放电电路，为了实现放电保护，往往设置一个用于智能保护的MCU芯片以及支持该MCU芯片的PCBA组件，但是由于MCU芯片具有较高的时钟频率并且其需要进行多种检测和控制，电池包较大一部分电量均消耗在该用于智能控制PCBA组件上。在放电电路进行小电流长时间的放电时，放电电量大大降低，造成能源的浪费，且难以满足用户需求。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种能降低控制功耗提高放电电量的放电保护电路及其控制方法

为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：

一种放电保护电路，包括：电芯组合，电芯组合包括一个以上的电芯，供电电路、输出电路、MCU芯片、电压检测电路、NTC电路、电流检测路、驱动电路和一个驱动开关；供电电路、输出电路和电芯组合构成串连，MCU芯片分别与电压检测电路、驱动电路、电流检测电路构成电连接，电压检测模块分别与电芯组合和NTC电路构成电连接，驱动开关包括：两个开关端和一个控制端，驱动开关的两个开关端串联在输出电路和电芯组合之间，电流检测电路电连接至输出电路和驱动开关开关端之间的电路中，驱动电路电连接至驱动开关的控制端控制两个开关端的通断。

进一步地，供电电路位于输出电路的高压侧，驱动开关位于输出电路的低压侧。

进一步地，电芯组合包括一个以上的串联单元，不同串联单元的之间构成串联，一个串联单元包括：一个以上的电芯，同一串联单元中电芯并联；电压检测电路与电芯组合之间设有多个电压采样电路，每个电压采样电路均设有一个采样控制开关，电压采样电路电连接至串联单元的高压端。

进一步地，一个采样控制开关处于连通时，其余采样控制开关均处于断开状态。

进一步地，驱动开关为一个MOSFET开关。

一种放电保护电路的控制方法，放电保护电路如前所述，该控制方法至少包括一个使放电保护电路以每小时0.2倍标称电量进行放电的放电过程。

进一步地，控制方法至少包括如下控制环节：MCU芯片初始化和MCU芯片周期控制，MCU芯片在一个周期的MCU芯片周期控制中至少具有一段工作时段和一段休眠时段。

进一步地，休眠时段的时间长度为工作时段时间长度的5至20倍。

进一步地，控制方法在工作时段至少包括如下顺序执行的控制环节：电芯组合电压检测、放电电流检测、电芯的温度检测、控制驱动开关。

进一步地，其特征在于，休眠时段的时间长度为工作时段时间长度的10倍。

本发明的有益之处在于：通过周期性的使MCU芯片休眠，在实现电池包放电保护的基础上同时也实现了降低控制功耗提高放电电量的目的。

附图说明

图1是本发明放电保护电路一个优选实施例示意图；