[发明专利]半导体器件

说明书

一种半导体器件，包括：端子、生成恒定电压的电源电压降低电路、响应于第一时钟向端子定期地施加恒定电压的开关电路、电流控制的振荡器电路、以及计数器，其中，电源电压降低电路向开关电路供应第一电流，电流控制的振荡器电路生成其频率响应于第一电流的值而改变的第二时钟，并且计数器在计数时间内对第二时钟的数目进行计数。

有关申请的交叉引用

包括说明书、说明书附图和说明书摘要、提交于2013年6月27日的日本专利申请第2013-135092号的公开内容通过完全引用而结合于此。

技术领域

本发明涉及一种半导体器件，并且例如涉及一种包含电容触摸传感器电路的半导体器件。

背景技术

电容触摸传感器电路常用于触键和触屏技术领域。美国专利第8089289号公开一种用于通过使用西格玛-德尔塔调制器电路将从切换电容电路输出的信号调制成数字信号的结构。美国专利第7312616号公开一种结构，该结构通过在比较器上比较参考电压与用于目标测量电容的端子电压来测量目标测量电容的值，该目标测量电容在指定的频率被反复地充电和放电。日本待审专利申请公开文本第2008-199408号公开一种其频率通过由操作部触摸或未由操作部触摸而改变的振荡器、以及一种用于检测该振荡器输出的频率信号的频率改变的结构。

发明内容

如在美国专利第8089289号中公开的那样，一种用于通过利用比较器以将参考电压与基于周期充电-放电电流生成的检测电压比较来测量电容值的技术是一种普遍使用的技术。比较器是用于判断在检测电压与参考电压之间的微小电压差值并且将该判断结果转换成数字信号的电路。在包含西格玛-德尔塔调制器电路的系统上叠加的噪声对微小电压差值施加影响，从而引起比较器中的判决误差。

西格玛-德尔塔调制器电路包含如下结构，该结构通过时钟对来自比较器的输出进行采样，因此噪声引起的在采样结果中的偏差将表现为比较器输入中的偏移，并且引起测量准确度下降。其它问题和新特征将由说明书中的描述和附图中变得显而易见。

根据本发明的一个方面，一种半导体器件包括端子、生成恒定电压的电源电压降低电路、用于响应于第一时钟而向端子定期地施加恒定电压的开关电路、第一电流控制的振荡器电路、和第一计数器；并且其中电源电压降低电路向开关电路供应第一电流，第一电流控制器的振荡器电路生成其频率响应于第一电流的值而改变的第二时钟，并且第一计数器在计数时间内对第二时钟的数目进行计数。

根据本发明的各个方面，去除在检测来自触摸电极的电容波动期间由于噪声所致的影响，并且无论触摸电极是否被触摸都维持判决的准确性。

附图说明

图1是第一实施例的半导体器件的结构框图；

图2是在第一实施例的半导体器件中包含的电流控制的振荡器电路的电路图；

图3是第一实施例的半导体器件的开关电路的电路图；

图4是在第一实施例的半导体器件中包含的电流控制的振荡器电路的特征曲线图；

图5是第一实施例的第一修改的半导体器件的框图；

图6是用于描述在第一实施例的第一修改的半导体器件中包含的恒定电流电路的功能的附图；

图7是用于描述在第一实施例的修改的半导体器件中包含的恒定电流电路的影响的附图；

图8是第一实施例的第二修改的半导体器件的框图；