[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201410295589.2 申请日: 2014-06-26
公开(公告)号: CN104253601B 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 荒木雅宏 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H03K17/687 分类号: H03K17/687
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

端子;

电源电压降低电路,其生成恒定电压;

开关电路,其响应于第一时钟向所述端子定期地施加所述恒定电压;

第一电流控制的振荡器电路;以及

第一计数器,

其中所述电源电压降低电路向所述开关电路供应第一电流,

其中所述第一电流控制的振荡器电路生成第二时钟,所述第二时钟的频率响应于所述第一电流的值而改变,并且

其中所述第一计数器在计数时间内对所述第二时钟的数目进行计数以作为第一计数数目,

所述半导体器件进一步包括第二晶体管,

其中所述电源电压降低电路包括输出所述第一电流的第一晶体管,

其中电流镜电路包含所述第一晶体管和所述第二晶体管,

其中所述第二晶体管向所述第一电流控制的振荡器电路供应第二电流,并且

其中所述第二时钟的频率响应于所述第二电流的值而改变,

所述半导体器件进一步包括:

第二恒定电流源;

第二电流控制的振荡器电路;以及

第二计数器,

其中所述第二恒定电流源输出第四电流,

其中所述第二电流控制的振荡器电路响应于所述第四电流而生成包括指定的频率的第三时钟,

其中所述第二计数器在所述计数时间内对所述第三时钟的数目进行计数以作为第二计数数目,并且

其中所述半导体器件检测所述第一计数数目与所述第二计数数目之间的差值。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括用于检测所述第一计数数目与所述第二计数数目之间的所述差值的差值检测器。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

第一恒定电流源,其向所述开关电路供应第三电流。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,

其中所述开关电路是反相器电路。

5.根据权利要求4所述的半导体器件,

其中所述第一电流的值响应于耦合到所述端子的触摸电极的寄生电容值的改变而改变。

6.根据权利要求5所述的半导体器件,

其中基于所述第二时钟的计数数目的改变来检测所述触摸电极的寄生电容值的改变。

7.一种半导体器件,包括:

第一端子;

第二端子;

电源电压降低电路,其生成恒定电压;

开关电路,其响应于第一时钟向所述第一端子定期地施加所述恒定电压;

输出缓冲器,其响应于所述第一时钟向所述第二端子定期地施加电源电压;

相位调节器电路;

电流控制的振荡器电路;以及

计数器,

其中所述电源电压降低电路向所述开关电路供应第一电流,

其中所述电流控制的振荡器电路生成第二时钟,所述第二时钟的频率响应于所述第一电流的值而改变,

其中所述相位调节器电路将其中所述开关电路向所述第一端子施加所述恒定电压的相位、以及其中所述输出缓冲器向所述第二端子施加所述电源电压的相位设置成用于同相位的同相位时段、或者用于反相位的反相位时段,并且

其中所述计数器在所述同相位时段和所述反相位时段中的每个时段中,在被设置为相同值的计数时间内,对所述第二时钟的数目进行计数。

8.根据权利要求7所述的半导体器件,还包括:

第二晶体管;

其中所述电源电压降低电路包括输出所述第一电流的第一晶体管,

其中电流镜电路包含所述第一晶体管和所述第二晶体管;

其中所述第二晶体管向所述电流控制的振荡器电路供应第二电流,并且

其中所述第二时钟的频率响应于所述第二电流的值而改变。

9.根据权利要求7所述的半导体器件,

其中所述开关电路是反相器电路。

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