[发明专利]一种提高图形搜索准确率的方法有效
| 申请号： | 201410273618.5 | 申请日： | 2014-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN105468590B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 季亮;阚欢;魏芳;朱骏;张旭昇 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/532 | 分类号： | G06F16/532 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 图形 搜索 准确率 方法 | ||
1.一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，所述方法包括：
步骤S1：对一原始版图制定短边尺寸的选取标准；
步骤S2：在所述版图中选取符合所述选取标准的目标图形；
步骤S3：将所述目标图形中的短边进行去除，以形成一临时版图；
步骤S4：定义需要搜索的图形的尺寸要求；
步骤S5：在所述临时版图中，搜索所有满足所述尺寸要求的图形，并获得其所对应的坐标位置；
步骤S6：在所述原始版图中，根据所述坐标位置找到对应的图形。
2.如权利要求1所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，步骤S3中，对所述目标图形中的部分区域进行填补，以去除所述短边。
3.如权利要求1所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，步骤S3中，对所述目标图形中的部分区域进行删除，以去除所述短边。
4.如权利要求1所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，步骤S3中，对所述目标图形中的部分区域同时进行填补和删除，以去除所述短边。
5.如权利要求1所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，所述目标图形中包括多晶硅和有源区，所述多晶硅位于所述有源区的上方。
6.如权利要求5所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，所述多晶硅中存在短边，且所述有源区中不存在短边。
7.如权利要求5所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，所述有源区中存在短边，且所述多晶硅中不存在短边。
8.如权利要求5所述的一种提高图形搜索准确率的方法，其特征在于，所述有源区和所述多晶硅中均存在短边。
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