[发明专利]检查设备有效
申请号: | 201410252780.9 | 申请日: | 2014-06-09 |
公开(公告)号: | CN104656005B | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 渡边浩康 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 吕俊刚,刘久亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种检查设备。
背景技术
日本专利No.4858657公开了一种基板检查设备,其对于印刷板进行电气测试。
发明内容
本发明的目的在于增强在其中测试器被以上下方向布置的结构中装卸基板时的工作性。
根据本发明的第一方面,提供了一种检查设备,其包括第一测试器和第二测试器,基板被装载到所述第一测试器和所述第二测试器中的每一个中以及从所述第一测试器和所述第二测试器中的每一个卸下,所述第一测试器和所述第二测试器测试装载的基板;第一台,所述第一测试器被安装在所述第一台上,所述第一台可移动到所述基板被装载到所述第一测试器中以及从所述第一测试器卸下的第一装卸位置以及所述第一测试器在装载在第一装卸位置的基板的测试期间所位于的第一测试位置,所述第一测试位置设置在所述第一装卸位置上方;第二台,所述第二测试器安装在所述第二台上,所述第二台被设置在所述第一台下方并且可移动到基板被装载在所述第二测试器中以及从所述第二测试器卸下的第二装卸位置以及第二测试器在装载在所述第二装卸位置处的所述基板的测试期间所位于的第二测试位置,所述第二测试位置设置在所述第二装卸位置下方;以及升降机构,所述升降机构将所述第一台上下移动到所述第一装卸位置和所述第一测试位置以及将所述第二台上下移动到所述第二装卸位置和所述第二测试位置。
根据本发明的第二方面,第二测试器包括盖部,所述盖部在所述基板装载时通过朝向所述第一台移动而打开,并且所述第一测试位置是所述第一台从打开的盖部退回到的位置。
根据本发明的第三方面,升降机构将第一台和第二台一起向上分别移动到所述第一测试位置和所述第二装卸位置,并且将所述第一台和所述第二台一起向下分别移动到所述第一装卸位置和所述第二测试位置。
根据本发明的第四方面,升降机构在开始所述第一测试器中的基板的测试的操作被执行时将所述第一台向上移动到所述第一测试位置。
根据本发明的第五方面,升降机构在开始所述第二测试器中的基板的测试的操作被执行时将所述第二台向下移动到所述第二测试位置。
根据本发明的第六方面,检查设备进一步包括显示部,所述显示部显示所述第一测试器和所述第二测试器中的测试的结束,并且所述升降机构将所述第一测试器和所述第二测试器中结束测试较早的测试器向上或向下移动到该测试器的装卸位置,而与所述第一测试器和所述第二测试器中的哪个较早地开始测试无关。
根据本发明的第一方面,能够使得装卸基板时的工作性高于第一台和第二台不上下移动的情况。
根据本发明的第二方面,与第一台不退回的情况相比,能够进一步抑制第二测试器的盖部分与第一台发生干扰。
根据本发明的第三方面,能够利用单个升降机将第一台和第二台上下移动。
根据本发明的第四方面,不需要向上移动第一台的操作。
根据本发明的第五方面,不需要向下移动第二台的操作。
根据本发明的第六方面,能够与测试开始的顺序无关地将基板装载到结束测试较早的测试器中以及从结束测试较早的测试器卸下。
附图说明
将基于附图详细地描述本发明的示例性实施方式,其中:
图1是示出根据示例性实施方式的检查设备的构造的透视图;
图2是示出图1的构造中移动体向下移动的状态的透视图;
图3是示出根据示例性实施方式的检查设备的构造的侧视图;
图4是示出图3的构造中第二测试器的盖部打开的状态的侧视图;
图5是示出图3的构造中移动体向下移动的状态的侧视图;以及
图6是示出图5的构造中第一测试器的盖部打开的状态的侧视图。
具体实施方式
将在下面参考附图描述本发明的示例性实施方式。
根据示例性实施方式的检查设备10
首先,将描述根据示例性实施方式的检查设备10的构造。图1和图2是示出检查设备10的构造的透视图。图3至图6是示出检查设备10的构造的侧视图。在下面的描述中使用的X方向、-X方向、Y方向(向上方向)、-Y方向(向下方向)、Z方向以及-Z方向是在图中示出的箭头的方向。在每个附图中,圆圈中有×的标记表示从图的纸面的前侧指向背侧的箭头,并且圆圈中有·的标记表示从图的纸面的背侧指向前侧的箭头。此外,在图3至图6中,检查设备10中的可移动部分(移动体40)被绘制为各个点以便于理解。
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