[发明专利]半导体装置和测试方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求在2013年9月2日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2013-0104933的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

各种实施例涉及一种半导体集成电路，并且更具体地涉及一种半导体装置。

背景技术

半导体装置包括用于从外部接收信号并且将信号输出至外部的配置。

半导体装置中用于将信号输出至外部的配置被称作为驱动器，其中，驱动器必须将信号正常地发送到外部器件，以使得半导体装置正常操作。

考虑到半导体装置的高集成和小型化，将半导体装置与外部器件电耦接的焊盘的尺寸减小。目前，小尺寸的焊盘之中的微凸块使用的最多。然而，由于微凸块过小而使得测试器件的引脚不能与微凸块接触，所以不能测试出经由驱动器输出至微凸块的信号是否正常，使得难以检查启动器是否不良。

发明内容

本文描述了能够测试将信号输出至微凸块的驱动器是否不良的半导体装置。

在本发明的一个实施例中，一种半导体装置包括：测试驱动器选择单元，被配置成响应于测试脉冲和测试时钟而将多个测试驱动器选择信号使能；以及多个驱动器，被配置成接收多个测试驱动器选择信号，其中多个驱动器中的每个被配置成响应于测试驱动器选择信号、数据和输出使能信号而将输出信号输出至数据凸块，并且接收第一驱动电压和第二驱动电压。

在本发明的一个实施例中，一种用于测试驱动器的方法，所述驱动器被配置成包括上拉单元，所述上拉单元当第一驱动信号被使能时对输出节点执行上拉操作，而当第二驱动信号被使能时对输出节点执行下拉操作，所述方法包括以下步骤：将第一驱动信号和第二驱动信号使能以使得能执行上拉操作和下拉操作；将第一驱动电压施加至第一驱动电压线，并且将第二驱动电压的电压电平施加至第二驱动电压线；以及检查从第一驱动电压线流至第二驱动电压线的电流量。

在本发明的一个实施例中，一种半导体装置包括：测试驱动器选择单元，被配置成当测试时钟转换成特定电平时将第一驱动器选择信号和第二驱动器选择信号使能；以及第一驱动器和第二驱动器，被配置成将输出信号分别输出至第一数据凸块和第二数据凸块。

附图说明

结合附图来描述特征、方面和实施例，其中：

图1是说明根据本发明的一个实施例的半导体装置的配置的框图；

图2是说明能够在图1的配置中实施的测试驱动器选择单元的配置的框图；

图3是说明能够在图1的配置中实施的第一驱动器的配置的框图；

图4是说明根据本发明的一个实施例的与微处理器相关的半导体装置的框图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图通过各种实施例来描述根据本发明的半导体装置和测试方法。

如图1中所示，根据本发明的一个实施例的半导体装置可以包括：测试驱动器选择单元100、第一驱动器200和第二驱动器300。

测试驱动器选择单元100响应于测试脉冲T_pulse和测试时钟T_clk分别以规律的顺序将第一测试驱动器选择信号T_ds1和第二测试驱动器选择信号T_ds2使能。例如，每当测试脉冲T_pulse被输入并且测试时钟T_clk转换成特定电平时，测试驱动器选择单元100可以采用规律的顺序将第一测试驱动器选择信号T_ds1和第二测试驱动器选择信号T_ds2使能。另外，当测试时钟T_clk再次转换成特定电平时，测试驱动器选择单元100可以禁止当测试时钟T_clk转换成特定电平时被使能的测试驱动器选择信号T_ds1或T_ds2。

第一驱动器200响应于第一数据Data_1、输出使能信号OE_s以及第一测试驱动器选择信号T_ds1，而将输出信号输出至第一数据凸块DQ_bump1。例如，当第一测试驱动器选择信号T_ds1被禁止并且输出使能信号OE_s被使能时第一驱动器200可以响应于第一数据Data_1而输出并且产生输出信号。另外，当第一测试驱动器选择信号T_ds1被使能时，第一驱动器200可以产生具有特定电压电平的输出信号，而与输出使能信号OE_s和第一数据Data_1无关。也就是说，当输入至第一驱动器200的第一测试驱动器选择信号T_ds1被使能时，第一驱动器200可以将特定电压输出至第一数据凸块DQ_bump1，而与输出使能信号OE_s和第一数据Data_1无关。第一驱动器200从第一驱动电压线VDDQ_L接收第一驱动电压VDDQ，并且从第二驱动电压线VSS_L接收第二驱动电压VSS。