[发明专利]半导体装置和测试方法

权利要求书

1.一种半导体装置，包括：

测试驱动器选择单元，被配置成响应于测试脉冲和测试时钟而将多个测试驱动器选择信号使能；以及

多个驱动器，被配置成接收所述多个测试驱动器选择信号，

其中，所述多个驱动器中的每个被配置成响应于测试驱动器选择信号、数据和输出使能信号而将输出信号输出至数据凸块，以及接收第一驱动电压和第二驱动电压。

2.如权利要求1所述的半导体装置，其中，所述测试驱动器选择单元被配置成每当输入所述测试脉冲并且所述测试时钟转换成特定电平时，以规律的顺序将所述多个测试驱动器选择信号使能。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其中，所述测试驱动器选择单元被配置成当所述测试时钟再次转换成特定电平时，将当所述测试时钟转换成所述特定电平时被使能的所述测试驱动器选择信号禁止。

4.如权利要求3所述的半导体装置，其中，所述测试驱动器选择单元包括串联电耦接的多个触发器。

5.如权利要求1所述的半导体装置，其中，所述多个驱动器中的每个被配置成当输入至相应的所述驱动器的所述测试驱动器选择信号被禁止且所述输出使能信号被使能时，响应于所述数据而产生所述输出信号。

6.如权利要求5所述的半导体装置，其中，所述多个驱动器中的每个被配置成当输入至相应的所述驱动器的所述测试驱动器选择信号被使能时，产生具有特定电压电平的所述输出信号。

7.根据权利要求6所述的半导体装置，其中，所述多个驱动器中的每个包括：

预驱动器，被配置成响应于所述数据和所述输出使能信号而产生第一初级信号和第二初级信号；

控制器，被配置成当输入至所述控制器的所述测试驱动器选择信号被禁止时响应于所述第一初级信号和所述第二初级信号而产生具有相等电平的第一驱动信号和第二驱动信号，并且当输入至所述控制器的所述测试驱动器选择信号被使能时产生具有相互不同电平的第一驱动信号和第二驱动信号；以及

主驱动器，被配置成响应于所述第一驱动信号而执行上拉操作，并且响应于所述第二驱动信号而执行下拉操作，从而产生所述输出信号。

8.如权利要求7所述的半导体装置，其中，所述控制器被配置成当所述测试驱动器选择信号被使能时产生所述第一驱动信号和所述第二驱动信号，使得所述主驱动器同时执行所述上拉操作和所述下拉操作。

9.一种测试驱动器的方法，所述驱动器被配置成包括上拉单元，所述上拉单元当第一驱动信号被使能时对输出节点执行上拉操作，而当第二驱动信号被使能时对所述输出节点执行下拉操作，所述方法包括以下步骤：

将所述第一驱动信号和第二驱动信号使能，以使得能执行所述上拉操作和所述下拉操作；

将第一驱动电压施加至第一驱动电压线并且将第二驱动电压的电压电平施加至第二驱动电压线；以及

检查从所述第一驱动电压线流至所述第二驱动电压线的电流量。

10.一种半导体装置，包括：

测试驱动器选择单元，被配置成当测试时钟转换成特定的电平时将第一驱动器选择信号和第二驱动器选择信号使能；以及

第一驱动器和第二驱动器，被配置成将输出信号分别输出至第一数据凸块和第二数据凸块。