[发明专利]AD转换器、信号处理方法、固态成像装置和电子设备有效
| 申请号: | 201410240781.1 | 申请日: | 2014-05-30 |
| 公开(公告)号: | CN104243865B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
| 发明(设计)人: | 金川恭一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 像素信号 斜坡信号 像素列 固态成像装置 电子设备 恒定斜率 信号处理 输出 像素阵列 信号电平 两组 升高 检测 | ||
1.一种AD转换器,包括:
第一AD转换单元,其中,像素阵列的多个像素列被分成至少两组,并且所述第一AD转换单元将第一斜坡信号与从所述两组之中的第一组所述像素列输出的第一像素信号相比较,并且对所述第一像素信号执行AD转换;以及
第二AD转换单元,将第二斜坡信号与从所述像素阵列中的不同于所述第一组的第二组所述像素列输出的第二像素信号相比较,并且对所述第二像素信号执行AD转换,
其中,所述第一斜坡信号是在用于检测像素信号的信号电平的D相周期中电平随着时间以恒定斜率降低的信号,
其中,所述第二斜坡信号是在所述D相周期中电平随着时间以恒定斜率升高的信号。
2.根据权利要求1所述的AD转换器,
其中,所述像素阵列的所述多个像素列被分成两组,并且
其中,所述第一组和所述第二组被分成所述像素阵列的奇数像素列和偶数像素列。
3.根据权利要求1所述的AD转换器,
其中,所述第二AD转换单元将从所述第二斜坡信号的所述电平在所述D相周期中开始升高的时刻到所述第二斜坡信号的所述电平变得与所述第二像素信号的所述电平相同的时刻的计数值加到通过将所述D相周期的最大计数值加到用于在所述D相周期之前检测复位电平的P相周期的计数值而获得的结果。
4.根据权利要求1所述的AD转换器,
其中,所述第二AD转换单元将从所述D相周期中所述第二斜坡信号的所述电平变得与所述第二像素信号的电平相同的时刻到所述第二斜坡信号的所述电平变成最高电平的时刻的计数值加到用于在所述D相周期之前检测复位电平的P相周期的计数值。
5.根据权利要求1所述的AD转换器,进一步包括:
参考信号生成单元,产生所述第一斜坡信号和所述第二斜坡信号。
6.根据权利要求1所述的AD转换器,
其中,所述像素阵列的所述多个像素列被分成两组,并且
其中,所述第一组和所述第二组被分成所述像素阵列的所有像素列的右半部分和左半部分。
7.根据权利要求1所述的AD转换器,
其中,所述像素阵列的所述多个像素列被分成三组。
8.一种AD转换器的信号处理方法,所述AD转换器包括:第一AD转换单元,其中,像素阵列的多个像素列被分成至少两组,并且所述第一AD转换单元对从所述两组之中的第一组所述像素列输出的第一像素信号执行AD转换;以及第二AD转换单元,对从所述像素阵列中的不同于所述第一组的第二组所述像素列输出的第二像素信号执行AD转换,所述方法包括:
通过将所述第一AD转换单元的所述第一像素信号与第一斜坡信号相比较来对所述第一像素信号执行AD转换;以及
通过将所述第二AD转换单元的所述第二像素信号与第二斜坡信号相比较来对所述第二像素信号执行AD转换,
其中,所述第一斜坡信号是在用于检测像素信号的信号电平的D相周期中电平随着时间以恒定斜率降低的信号,并且
其中,所述第二斜坡信号是在所述D相周期中电平随着时间以恒定斜率升高的信号。
9.根据权利要求8所述的AD转换器的信号处理方法,其中,
将所述像素阵列的所述多个像素列分成两组,并且
将所述第一组和所述第二组分成所述像素阵列的奇数像素列和偶数像素列。
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