[发明专利]射频通道校准方法及装置、SAR测量方法、磁共振系统

权利要求书

1.一种磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，包括：

基于所述射频通道的期望增益和校准信号的功率确定所述射频通道的期望功率，所述校准信号的功率是由所述磁共振系统的射频信号发射电路所输出的预设功率确定的；

由所述射频通道的期望功率和射频信号的输出功率确定所述射频信号的校准参数，所述射频信号为所述射频通道中经定向耦合器耦合后得到的信号；

在磁共振系统采集模式下，基于所述射频信号的校准参数对所述射频信号的输出功率进行实时校准。

2.如权利要求1所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，所述校准信号的功率通过如下方式获取：

按照所述射频信号的数目，对所述射频信号发射电路输出的预设功率进行分配，以确定所述校准信号的功率。

3.如权利要求2所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，所述射频信号的校准参数通过如下方式获取：

获取所述射频信号的功率；

由所述射频通道的期望功率和所述射频信号的功率的差值确定所述射频信号的校准参数。

4.如权利要求3所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，所述在磁共振系统采集模式下，基于所述射频信号的校准参数对所述射频信号的功率进行实时校准包括：

基于所述射频信号的校准参数确定所述射频信号的线性系数；

将所述射频信号的功率与所述射频信号的线性系数的乘积确定为所述射频信号校准后的功率。

5.如权利要求4所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，包括：通过公式a(n)＝10^(k(n)/20)确定所述射频信号的线性系数，其中，a(n)为所述射频信号的线性系数，k(n)为所述射频信号的校准参数，n为所述射频信号的索引值。

6.如权利要求1所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，其特征在于，所述射频信号的校准参数在所述磁共振系统的初始调试阶段、开机后的自检阶段和扫描序列运行前的准备阶段进行获取。

7.一种SAR测量方法，其特征在于，包括：

采用如权利要求1至权利要求6任一项所述的磁共振系统的射频通道的校准方法，获取所述射频信号校准后的功率；

基于所述射频信号校准后的功率计算所述SAR值。

8.一种磁共振系统的射频通道的校准装置，其特征在于，包括：

射频信号发射电路，用于发射具备校准功率的信号；所述校准功率是由所述射频信号发射电路所输出的预设功率确定的；

检测电路，用于获得射频信号的输出功率，所述射频信号为所述射频通道中经定向耦合器耦合后得到的信号；

处理单元，用于基于所述射频通道的期望增益和校准信号的功率确定所述射频通道的期望功率，由所述射频通道的期望功率和所述射频信号的输出功率确定所述射频信号的校准参数；所述校准参数用于在磁共振系统采集模式下对所述射频信号的输出功率进行实时校准。

9.如权利要求8所述的磁共振系统的射频通道的校准装置，其特征在于，还包括：功率分配器，用于对所述射频信号发射电路输出的预设功率进行分配，以确定校准信号的功率。

10.如权利要求8所述的磁共振系统的射频通道的校准装置，其特征在于，还包括：存储单元，用于存储所述射频通道的期望增益，以获得所述射频通道的期望功率。

11.如权利要求8所述的磁共振系统的射频通道的校准装置，其特征在于，所述处理单元还包括：系数确定单元，用于基于所述射频信号的校准参数确定所述射频信号的线性系数；所述射频信号的线性系数用于确定所述射频信号校准后的功率。

12.一种磁共振系统，其特征在于，包括：如权利要求8至11任一项所述的磁共振系统的射频通道的校准装置。