[发明专利]样品原子能谱分析仪

说明书

技术领域

本发明涉及原子能谱领域，尤其涉及样品原子能谱分析仪。

背景技术

样品原子能谱分析,对化合物的鉴定、化学过程的控制、分子结构的确定、定性和定量化学分析具有重要意义，不同原子的能谱吸收和跳变跃级释放出的光的波长不一样，也产生了颜色的差别。以单原子的形式而存在，关键看该原子的电子激发能。如果在可见光的某个范围内，并且吸收某一部分光线，那它就显剩下的部分的光线的颜色。原子的电子激发能非常低，能吸收任何光线，它就是白色的。如果它能吸收短波部分的光线，那它就是红色或黄色的。通过能谱的研究，可以得到原子、分子等的能级结构、能级寿命、电子的组态、分子的几何形状、化学键的性质、反应动力学等多方面物质结构特征。

发明内容

为了克服现有装置的不足之处，本发明采用的技术方案如下：

样品原子能谱分析仪，其特征在于，主要包括：

1--光源装置，2--光束调光装置，3--光束控制装置，4--聚焦装置，5--样品分析装置，6--样品汽化装置，7--样品导入装置，8--高压正极装置，9--高压负极装置，10--信号转换装置，11--信号显示与记录装置；

其中，

光源装置(1)含有高能发射电极，电极材料为氧化鎶鈇合金，

光束调光装置(2)含有七棱圆柱偏振透镜，该透镜表面覆盖有溴化镥锘纳米复合材料透光膜，

光束控制装置(3)含有滤光谐波透镜，该透镜两面都镀有厚度为20nm的铬酸镝鈩复合材料滤光膜，

高压正极装置(8)含有高电位电极，该电极材料为碳化钷铪合金。

光源装置(1)主要用于高能光电子束的产生，为样品原子特征分析提供足够的能量，光束调光装置(2)主要用于光束的非正常偏振引起的谱线漂移的校正与消除，光束控制装置(3)主要用于减少光束的界面反射引起的特征谱线衰减，聚焦装置(4)主要用于光束的路径汇集，实现光束能量传导的约束。

样品分析装置(5)主要用于样品的原子能谱分析，样品汽化装置(6)主要用于样品的高温原子汽化，为便于实现原子能谱分析，样品导入装置(7)主要用于原子能谱待测样品的进样，高压正极装置(8)和高压负极装置(9)主要用于样品高能解离提供足够的能量，实现原子能谱特征谱线的生成，信号转换装置(10)主要用于能谱分析信号的转换与传导，信号显示与记录装置(11)主要用于检测分析信号的显示与记录。

本发明与现有技术相比具有的有益效果是：

(1)通过光束调光装置实现光束的非正常偏振引起的谱线漂移的校正与消除；

(2)通过光束控制装置实现减少光束的界面反射引起的特征谱线衰减，

(3)通过聚焦装置进行光束的路径汇集，实现光束能量传导的约束；

附图说明

图1是样品原子能谱分析仪的示意图

如图1所示，本发明所述的样品原子能谱分析仪，主要包括：

1--光源装置，2--光束调光装置，3--光束控制装置，

4--聚焦装置，5--样品分析装置，6--样品汽化装置

7--样品导入装置，8--高压正极装置，9--高压负极装置，

10--信号转换装置，11--信号显示与记录装置；

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。

具体实施方式

首先，通过光源装置(1)进行高能光电子束的产生，为样品原子特征分析提供足够的能量，然后，采用光束调光装置(2)实现光束的非正常偏振引起的谱线漂移的校正与消除，借助于光束控制装置(3)减少光束的界面反射引起的特征谱线衰减，通过聚焦装置(4)进行光束的路径汇集，实现光束能量传导的约束。结合样品分析装置(5)实现样品的原子能谱分析，采用样品汽化装置(6)进行样品的高温原子汽化，为便于实现原子能谱分析，通过样品导入装置(7)实现原子能谱待测样品的进样，借助于高压正极装置(8)和高压负极装置(9)为样品高能解离提供足够的能量，实现原子能谱特征谱线的生成，通过信号转换装置(10)进行能谱分析信号的转换与传导，最后，采用信号显示与记录装置(11)实现检测分析信号的显示与记录。