[发明专利]样品原子能谱分析仪在审
| 申请号： | 201410230746.1 | 申请日： | 2014-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN104020141A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 储冬红;彭飞;郭睦庚;严方园 | 申请（专利权）人： | 成都中远千叶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610100 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 样品 原子能 谱分析 | ||
【权利要求书】：
1.样品原子能谱分析仪，其特征在于，主要包括：
1--光源装置，2--光束调光装置，3--光束控制装置， 4--聚焦装置，5--样品分析装置，6--样品汽化装置， 7--样品导入装置，8--高压正极装置，9--高压负极装置， 10--信号转换装置，11--信号显示与记录装置；
其中，
光源装置（1）含有高能发射电极，电极材料为氧化鎶鈇合金，
光束调光装置（2）含有七棱圆柱偏振透镜，该透镜表面覆盖有溴化镥锘纳米复合材料透光膜，
光束控制装置（3）含有滤光谐波透镜，该透镜两面都镀有厚度为20 nm的铬酸镝鈩复合材料滤光膜，
高压正极装置（8）含有高电位电极，该电极材料为碳化钷铪合金。
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