[发明专利]评价基板、环境试验装置和试样的评价方法

说明书

本发明提供一种评价基板，其即使在评价自身发热的试样的情况下，也难以产生试验温度的不均，能够正确地评价试样的温度特性。该评价基板用于对试样(10)通电并将试样(10)暴露在所希望的温度下来评价试样(10)，该评价基板具有：具有面状延展的基板主体(2)；能够安装试样(10)的安装部(3)；和加热基板主体(2)的加热器(8)，安装部(3)位于基板主体(2)的一个主面一侧，加热器(8)在基板主体(2)的另一个主面一侧呈面状分布并与基板主体(2)形成为一体。

技术领域

本发明涉及进行试样的温度特性的评价的评价基板。此外，本发明涉及将评价基板暴露在规定的环境下的环境试验装置。并且，本发明还涉及使用环境试验装置来评价试样的温度特性的评价方法。

背景技术

作为评价产品等性能的方法之一，例如有环境试验。环境试验是将产品等放置在特定的环境下，观察性能等的变化。

环境试验装置是用于进行环境试验的装置，能够将试验空间内维持为所希望温度等的环境(例如专利文献1)。环境试验装置例如能够形成高温环境和低温环境、高湿度环境和低湿度环境、真空环境等各种环境。即，环境试验装置能够在试验室内设置产品，评价各种环境下的产品性能。

此外，以往在安装于印刷基板上的小型器件等中，为了确保安全性和可靠性而评价构成部件的特性。

例如，在温度特性评价试验中，准备软钎焊安装了作为评价对象的试样的印刷基板。然后，将该印刷基板设置在空气循环式的环境试验装置中，在使试样暴露在规定温度的空气中的状态下通电，由此评价试样的温度特性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-209303号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

通常，在评价试样的温度特性时，大多数情况下一次性评价大量的试样。即，大多数情况下在1片印刷基板上安装多个试样，对各试样进行评价。在评价这些试样时，为了得到可靠性高的温度特性的结果，需要在同一条件、环境下评价。

但是，在试样是片状电阻器那样的因通电而伴随发热的试样(以下也称为发热试样)的情况下，在现有的环境试验装置中，试样会因为试验室内的空气(风)的接触(受风)方式而在发热状态、散热状态之间发生变化。因此，印刷基板内的温度分布增大，可能因试样的安装位置而产生试验温度的不均。因此，在现有的环境试验装置的评价方法中，存在不能够正确评价温度特性的问题。

于是，作为解决这样的问题的方法之一，考虑使试验室内成为无风空间，不对试样吹风的方法。

例如，在无风空间内，将表面上安装了发热试样的印刷基板装载在电热板那样的加热机器上。考虑通过这样对发热试样直接加热，评价温度特性的方法。

但是，在该方法中，也会因为印刷基板与加热机器的接触程度，而在印刷基板内的温度中产生不均。即，因为印刷基板的表面形状和加热机器的加热面的凹凸，在印刷基板与加热机器之间的导热面积中产生不均，在对印刷基板上安装的发热试样的导热中产生不均。因此，该方法中，也存在不能够正确评价发热试样的温度特性的问题。

于是，本发明目的在于提供一种评价基板，其在评价试样时难以产生试验温度的不均，能够正确地评价试样的温度特性。此外，目的在于提供一种环境试验装置，其即使对于自身发热的试样也难以产生试验温度的不均，能够正确地评价试样的温度特性。并且，目的还在于提供一种能够正确地评价试样的温度特性的评价方法。

用于解决技术问题的手段