[发明专利]金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法无效

专利信息
申请号: 201410197889.7 申请日: 2014-05-12
公开(公告)号: CN104009116A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 杨红冬;张辉;刘仁中;张斌;邢国强 申请(专利权)人: 奥特斯维能源(太仓)有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 215434 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 金刚 切割 多晶 硅片 电池 制作方法
【权利要求书】:

1.金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

1)将P型多晶硅片进行预清洗,表面用HNO3与HF混合溶液去除损伤层得到去除损伤层后的硅片;

2)将去除损伤后的硅片放置在制绒装置反应室,通入气体SF6与O2进行干法制绒,时间为10min,得到干法制绒后的硅片;

3)在干法制绒后的硅片表面进行磷源扩散,采用POCl3液态磷扩散源制备P-N结,扩散温度830℃,时间为80min,方块电阻为60~90ohm,得到磷源扩散后的硅片;

4)将磷源扩散后的硅片进行湿法刻蚀,然后在其正表面PECVD沉积SiNx薄膜,得到沉积后的硅片;

5)在沉积后的硅片背面分别印刷银浆、铝浆后烘干,然后在其正表面印刷正银后烧结,得到电池成品。

2.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤1)中,所述的去除损伤层的厚度为2.5~4μm。

3.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤2)中,RIE干法制绒后的硅片的反射率为5~15%。

4.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤4)中, 所述SiNx减反射膜厚度控制在70~90nm,反射率控制在0.5%~3%,折射率控制在1.9~2.3。

5.根据权利要求1~4中任意一项所述的金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:所述的P型多晶硅片的电阻率为1~3Ω·cm。

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