[发明专利]金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法无效
申请号: | 201410197889.7 | 申请日: | 2014-05-12 |
公开(公告)号: | CN104009116A | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 杨红冬;张辉;刘仁中;张斌;邢国强 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 215434 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金刚 切割 多晶 硅片 电池 制作方法 | ||
1.金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:
1)将P型多晶硅片进行预清洗,表面用HNO3与HF混合溶液去除损伤层得到去除损伤层后的硅片;
2)将去除损伤后的硅片放置在制绒装置反应室,通入气体SF6与O2进行干法制绒,时间为10min,得到干法制绒后的硅片;
3)在干法制绒后的硅片表面进行磷源扩散,采用POCl3液态磷扩散源制备P-N结,扩散温度830℃,时间为80min,方块电阻为60~90ohm,得到磷源扩散后的硅片;
4)将磷源扩散后的硅片进行湿法刻蚀,然后在其正表面PECVD沉积SiNx薄膜,得到沉积后的硅片;
5)在沉积后的硅片背面分别印刷银浆、铝浆后烘干,然后在其正表面印刷正银后烧结,得到电池成品。
2.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤1)中,所述的去除损伤层的厚度为2.5~4μm。
3.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤2)中,RIE干法制绒后的硅片的反射率为5~15%。
4.根据权利要求1金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:步骤4)中, 所述SiNx减反射膜厚度控制在70~90nm,反射率控制在0.5%~3%,折射率控制在1.9~2.3。
5.根据权利要求1~4中任意一项所述的金刚线切割多晶硅片的电池的制作方法,其特征在于:所述的P型多晶硅片的电阻率为1~3Ω·cm。
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