[发明专利]基于位的熔丝修复

说明书

技术领域

本发明总地涉及熔丝阵列。

背景技术

熔丝阵列广泛地用于存储关于用户获得的服务水平的信息。例如，在机顶盒或线缆盒中，熔丝被设置用来表明用户已付费的服务。然而，广泛的各种其它应用也是可行的。

所产生的一个问题是，当熔丝位有缺陷时，必须报废整个熔丝阵列。一种避免该问题的方法是提供冗余熔丝。这些冗余熔丝随后被赋予地址，取代有缺陷的常规熔丝。通常，这需要替换整行的熔丝，仅仅是因为该行中的一位是有缺陷的。

附图说明

针对以下附图来描述一些实施例：

图1是本发明的一个实施例的示意图；

图2是用于基于位的修复的序列的流程图；

图3是根据一个实施例的对基于位的修复进行编程的序列的流程图；

图4是一个实施例的系统绘图；以及

图5是一个实施例的正视图。

具体实施例

依照一些实施例，取代提供替换行，熔丝阵列内部的区域可以专供存储有缺陷的位的地址。随后这些位能够容易地通过如下方式来修复：简单地读取标识为有缺陷的位的所存储状态，并反转(invert)标识为有缺陷的位的所存储的状态，以获得正确的输出。

在某些情况下，这种对有缺陷的熔丝的地址的存储相较于因为一个不良位而牺牲整个冗余行可以是更加有效率的。相反，在一常规的32位行中，可以提供四种不同的修复选项，用于仅通过存储有缺陷的位的地址，来修复高达四个不同的位。

参照图1，熔丝阵列集成电路10可以在任意非易失性存储器中实现，举例而言，包括常规的熔丝，一次性可编程存储器，或管芯上可编程熔丝。在一些实施例中，该熔丝阵列12可以由行寻址电路20和列寻址电路18寻址。感测放大器16感测存储的数据的状态。控制器22可以负责控制电路18和20及感测放大器16。在一些实施例中，可以沿熔丝阵列的一个边缘提供修复行14，用于存储有缺陷的位的地址。此外，常规的位可以定位在下方的右侧角内的阵列中，在一个实施例中，在地址行0，列0(0，0)处。当然，多于一行或者一列或多列也可以用于存储有缺陷的位的地址。

为使用修复行14修复一组位，在一些实施例中，可以使用如图2所示的序列24。其可以在软件、固件和/或硬件中实现。在软件和固件的实施例中，其可以由存储在一个或多个非临时性计算机可读介质中的计算机执行的指令来实现，该非临时性计算机可读介质譬如是磁性的、光学的或半导体存储设备。在一些实施例中，序列24可以在控制器22(图1)内实现。

位修复序列24从确定用于读访问的位地址是否被接收开始，如在菱形26中所确定的。如果是这样的话，该地址能够在修复行内被检索到，如在方块28内所指示的。如果地址存储在修复行中，那么在菱形30中可以检测到匹配。在这种情况下，在有缺陷位置的该位被读取并反转，如在方块32内所指示的。否则，该位是良好的，且其能够被读取，如在方块34中所指示的。

作为一个实例，熔丝阵列可以由32行组成，每一行具有32位。那么在一千位的熔丝阵列中需要十位来唯一地寻址任意熔丝位。然而，作为修复行本身而言也容易出现熔丝故障，33行是理想地可以寻址的，导致总共需要11位来寻址有缺陷的位。

为降低由有缺陷的熔丝引起的高故障附带结果，可以以架构方式设计第33行作为熔丝修复行，而不是作为冗余熔丝行。将整行用于熔丝修复，可以在一千位的熔丝块中修复高达四位。修复机制并不修复实际的熔丝。其仅是该位没有处在正确的值上并且需要被反转的指示器。在熔丝感测或熔丝读取期间，逻辑单元随后使用该修复信息，来反转在将熔丝数据发送至集成电路的其余部分之前读取的熔丝值。

因此，在一个实施例中，采用单个的修复行，可以进行四种不同的模态。在修复零中，该行的最前面的九位可以用于提供有缺陷的位的行地址和列地址。熔丝块的数据部分中的任意熔丝能够被修复，除了行0，列0。类似地，修复一可以通过从位10至19的位实现。这为行地址和列地址提供了空间。同样，数据部分中的任意熔丝都能够被修复，除了行0，列0。接下来，修复二使用位20-30，并包括一行地址和一列地址。这能够修复数据部分和修复行的任意部分中的任意熔丝。同样，其不能修复行0，列0。最终，修复三包括一位，且其仅能够用来修复行0，列0处的熔丝。

因此，任意三个随机位能够被修复，同时还为行0，列0提供了唯一的指示器。专用于修复位的行0，列0排除了修复行都是零的角落的情况，例如，因为最初采用所有的位都为零来设置芯片。否则，这种情况会具有所有三个指向相同的行0，列0地址的修复地址。