[发明专利]基于位的熔丝修复

权利要求书

1.一种用于修复熔丝阵列中的有缺陷的位的方法，所述方法包括：

读取所述阵列中的有缺陷的位的地址，其中所述地址存储在所述阵列中；

将所述阵列的行或列专用于存储有缺陷的位的地址；

确定有缺陷的位是否位于专用于存储有缺陷的位的地址的行或列中；

读取所述有缺陷的位的状态；以及

反转所述有缺陷的位的所述状态。

2.如权利要求1所述的方法，包括确定地址行0、列0的位是否是有缺陷的。

3.如权利要求1所述的方法，包括确定有缺陷的位是否是要识别的第一个有缺陷的位。

4.如权利要求3所述的方法，包括基于先前检测到的有缺陷的位的数量，确定存储有缺陷的位的地址的位置。

5.一种用于修复熔丝阵列中的有缺陷的位的装置，所述装置包括：

用于读取所述阵列中的有缺陷的位的地址的模块，其中所述地址存储在所述阵列中；

用于将所述阵列的行或列专用于存储有缺陷的位的地址的模块；

用于确定有缺陷的位是否位于专用于存储有缺陷的位的地址的行或列中的模块；

用于读取所述有缺陷的位的状态的模块；以及

用于反转所述有缺陷的位的所述状态的模块。

6.如权利要求5所述的装置，包括用于确定地址行0、列0的位是否有缺陷的模块。

7.如权利要求5所述的装置，包括用于确定有缺陷的位是否是要识别的第一个有缺陷的位的模块。

8.如权利要求7所述的装置，包括用于基于先前检测到的有缺陷的位的数量，确定存储有缺陷的位的地址的位置的模块。

9.一种存储装置，包括：

熔丝阵列；以及

控制器，用于读取所述阵列中的有缺陷的位的地址，读取所述有缺陷的位的状态，以及反转所述有缺陷的位的所述状态，其中所述地址存储在所述阵列中，其中所述控制器用于将所述阵列的行或列专用于存储有缺陷的位的地址，并且所述控制器用于确定有缺陷的位是否位于专用于存储有缺陷的位的地址的行或列中。

10.如权利要求9所述的装置，所述控制器用于确定地址行0、列0的位是否是有缺陷的。

11.如权利要求9所述的装置，所述控制器用于确定有缺陷的位是否是要识别的第一个有缺陷的位。

12.如权利要求11所述的装置，基于先前检测到的有缺陷的位的数量，确定存储有缺陷的位的地址的位置。

13.如权利要求9所述的装置，包括操作系统。

14.如权利要求9所述的装置，包括电池。

15.如权利要求9所述的装置，包括固件和用于对所述固件进行升级的模块。

16.一种存储设备，包括：

多个熔丝，其中少于全部所述多个熔丝的熔丝用于存储有缺陷的熔丝的地址；以及

控制器，用于读取所述地址并反转在所述地址处存储的值，其中所述控制器用于将熔丝的行或列专用于存储有缺陷的位的地址，并且所述控制器用于确定有缺陷的位是否位于专用于存储有缺陷的位的地址的行或列中。

17.如权利要求16所述的存储设备，所述控制器用于确定地址行0、列0的位是否是有缺陷的。

18.一个或多个用于存储指令的计算机可读介质，所述指令由处理器实施以执行一序列，该序列包括：

读取所述阵列中的有缺陷的位的地址，其中所述地址存储在所述阵列中；

将所述阵列的行或列专用于存储有缺陷的位的地址；

确定有缺陷的位是否位于专用于存储有缺陷的位的地址的行或列中；

读取所述有缺陷的位的状态；以及

反转所述有缺陷的位的所述状态。

19.如权利要求18所述的介质，所述序列包括确定地址行0、列0的位是否是有缺陷的。

20.如权利要求18所述的介质，所述序列包括确定有缺陷的位是否是要识别的第一个有缺陷的位。

21.如权利要求20所述的介质，所述序列包括基于先前检测到的有缺陷的位的数量，确定存储有缺陷的位的地址的位置。