[发明专利]带有可变验证操作的非易失性存储器(NVM)

权利要求书

1.一种擦除非易失性存储器NVM阵列的方法，包括：

基于所述NVM阵列的温度，确定第一数目；

将所述第一数目的擦除脉冲施加于所述NVM阵列；以及

在开始施加之后在已达到所述第一数目之后，首次执行所述NVM的第一验证，

其中，所述确定的进一步特征在于：所述第一数目选自于多个数目，所述多个数目对应于温度范围，

且其中，所述确定的进一步特征在于：所述多个数目中的每一个受到在其对应的所述温度范围实现擦除所需的脉冲数目变化的影响。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

如果执行所述第一验证的步骤确定擦除是不成功的，则在验证之后，将附加擦除脉冲施加于所述NVM阵列。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

基于成功擦除所述NVM阵列所需的擦除脉冲数目，确定所述第一数目是否应该被更新。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括：

如果执行所述第一验证的步骤确定擦除是不成功的，则交替地施加擦除脉冲和执行验证，直到在已经施加了最大数目的擦除脉冲之后已经发生了下述组中的一个，该组包括：确定所述擦除已成功、或失败擦除。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，确定的步骤的进一步特征在于：所述第一数目还基于已执行的擦除周期的数目。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤的进一步特征在于：所述第一数目还基于已执行的擦除周期的数目。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，确定的步骤的进一步特征在于：所述多个数目中的每一个是在其对应的所述温度范围实现擦除所需的脉冲数目的百分比。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，

如果执行第一验证的步骤确定擦除是不成功的，则交替地施加擦除脉冲和执行验证，直到在已经施加了最大数目的擦除脉冲之后已经发生了下述组中的一个，该组包括：确定所述擦除已成功、或失败擦除；

如果所述擦除已成功，则对所述NVM阵列执行压缩验证；以及

如果压缩验证未通过，则对所述NVM阵列执行压缩。

9.一种非易失性存储器NVM，包括：

NVM阵列；

电荷泵，所述电荷泵提供用于生成擦除脉冲的电源；

温度传感器，所述温度传感器提供指示所述NVM阵列温度的信号；

控制器，所述控制器耦合于所述NVM阵列、所述温度传感器和所述电荷泵，所述控制器：

基于所述NVM阵列的温度，确定第一数目；

将所述第一数目的擦除脉冲施加于所述NVM阵列；以及

在已达到所述第一数目的擦除脉冲之后，首次执行所述NVM的第一验证，

其中，所述第一数目选自于多个数目，其中，所述多个数目对应于温度范围，

且其中，所述多个数目中的每一个受到在其对应的所述温度范围实现擦除所需的脉冲数目变化的影响。

10.根据权利要求9所述的NVM，其中，如果所述控制器确定擦除是不成功的，则所述控制器交替地施加擦除脉冲和执行验证，直到已经发生了下述组中的一个，该组包括：确定所述擦除已成功、或最大数目的擦除脉冲。

11.根据权利要求10所述的NVM，其中，所述第一数目还基于已被执行的擦除周期的数目。

12.根据权利要求9所述的NVM，其中，所述多个数目中的每一个是在其对应的所述温度范围实现擦除所需的脉冲数目的百分比。