[发明专利]激光测距仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种激光测距仪。 

背景技术

激光测距装置的基本机构已为公知。例如：中国专利文献公告号CN201203670Y公开了一种激光测距仪中的发射光学系统包括：光阑2、激光器和设于激光器光线输出端的准直器1；，光阑移位装置用于控制光阑2移入或移出发射光学系统的发射光路21。在准直器1前端的所述发射光路21上设有用于折射光线的内光路切换装置4，内光路切换装置4的一侧设有用于接收所述折射光线的内光路光纤5；所述内光路切换装置4包括：内光路电机4-1及与内光路电机4-1的转轴固定相连的折射棱镜4-2；所述内光路光纤5的光线入射端面与折射棱镜4-2相对。

上述现有的激光测距仪所存在不足：

1、内光路切换装置4在内、外光路切换时，由于内光路的光程有一段是通过与内光路电机4-1转轴固定相连的折射棱镜4-2传输的，内光路电机4-1的轴向窜动会带来内光路光程的变化，这种变化量在高精度测距时对精度有显著的影响。

2、测距仪在用反射棱镜测量时，发射光线会在经过上述折射棱镜4-2第一面时，一小部分光线形成表面反射，其他到全反射面时再全部反射，两个反射面的光线产生混叠进入接收系统，在高精度测量时有显著的影响(近距离测量时由于发射光线很强棱镜第一表面反射相对也强)。

3.接光纤端面是固定在光学系统焦点上的，近距离测量时由于光学系统成像的原因焦点位置后移，光纤的受光面需增大，否则接收进入接收光纤的能量就减小，导致测量误差增加；而光纤的受光面不能无限增加，且受光面越大，外界光噪声也越大，测量误差就会加大；同时光纤越粗就越硬，制造的工艺性也越差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种可实现高精度测距的激光测距仪。

为解决上述技术问题，本发明的激光测距仪，包括：发射光学系统；该发射光学系统包括：准直器；在准直器所在的发射光路上设有用于产生内光路以实现取样的第一折射板，以及用于接收所述内光路光线的内光路光纤；在发射光路和内光路之间设有内外光路切换装置，内外光路切换装置在阻断所述发射光路时，导通内光路；在阻断所述内光路时，导通所述发射光路。

进一步优选地，所述内外光路切换装置包括：内光路电机及与内光路电机的转轴固定相连的用于阻断所述发射光路或内光路的挡光片。

可选的方案是：所述第一折射板的一侧设有与该第一折射板平行设置的用于延伸所述内光路的第二折射板，挡光片设于内光路上且于第二折射板的下游，并处于发射光路上的第一折射板的下游。

进一步优选地，该激光测距仪还包括接收光学系统，该接收光学系统包括：前后同设于中心轴线上的物镜组和接收光学组件，以及设于接收光学组件一侧的用于会聚接收光线的接收透镜组，在中心轴线上且依次设于接收光学组件后端的调焦镜、转像棱镜组和目镜分划板组件；第二分叉光纤器的总端口正对接收透镜组设置，以接收来自该接收透镜组的光线；第二分叉光纤器的一分叉端经接收光纤与第一分叉光纤器的一分叉端相连；第一分叉光纤器的总端口设有光电转换器；所述内光路光纤与第一分叉光纤器的另一分叉端相连。

进一步优选地，该激光测距仪还包括辅助夜照明系统，该系统包括：光源、正对该光源设置的夜照明光纤，该夜照明光纤与第二分叉光纤器的另一分叉端相连。

进一步优选地，所述接收光学组件包括：前后设置在中心轴线上的反光斜面和半反半透光板；第二分叉光纤器的总端口与反光斜面相对，以接收来自反光斜面的光线；第二分叉光纤器与反光斜面之间依次设有会聚接收光线的接收透镜组和减光装置。

进一步优选地，在发射光路上设有第一折射板；在中心轴线上所述反光斜面与物镜组之间设有第二折射板；第一折射板与第二折射板相对设置；使用时，发射光路上的光线依次经第一折射板、第二折射板反射后从透镜射出；经目标物体反射回的光线经物镜组6、半反半透光板7-2、反光斜面7-3、接收透镜组25后汇聚进入第二分叉光纤器29。

第二分叉光纤器的总端口输出的照明光线经所述反光斜面反射，然后沿所述中心轴线射向分划板组件。

进一步优选地，所述接收光学组件还包括透光板；所述第二折进一步优选地，所述接收光纤包括多个光纤束，在所述第二分叉光纤器的总端口的端面上，所述接收光纤中的各光纤束的端部直线排列，或使用单根光纤（优选单根直径为0.4-1mm的光纤），将其挤压呈矩形或椭圆形（即为：锥形光纤）后直线排列。所述接收光纤中的各光纤束的端部排列形成的线段的中点，与所述第二分叉光纤器的总端口的端面中心重合；所述夜照明光纤中的多根光纤的端面围绕接收光纤分布。