[发明专利]一种实现远场超分辨成像的方法和装置无效

专利信息
申请号: 201410166064.9 申请日: 2014-04-23
公开(公告)号: CN103901629A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 罗先刚;王长涛;赵泽宇;王彦钦;胡承刚;蒲明薄;王炯;黄成;刘玲;罗云飞 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B27/58 分类号: G02B27/58
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 实现 远场超 分辨 成像 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将激发光和STED光同时耦合进入单模光纤,在光纤出射端形成双波长光束出射;

(2)采用消色差透镜使单模光纤出射的双波长光束同时准直;

(3)将准直光束依次通过起偏器和双波长波片,其中双波长波片对激发光为全波片,对STED光为半波片,通过调节双波长波片使其光轴与起偏器透光方向夹角为45°,可以得到偏振方向互相垂直的激发光束和STED光束;

(4)将所述偏振方向互相垂直的激发光束和STED光束通过液晶偏振转换器,调节偏振转换器得到径向偏振的激发光束和角向偏振的STED光束;

(5)将所述径向偏振的激发光束和角向偏振的STED光束通过高数值孔径物镜聚焦,在样品表面分别聚焦为圆形光斑和环形光斑;

(6)调节STED光束光强,使STED光对激发光斑面积的压缩效果达到最佳状态,控制三维纳米位移台移动,采用光强探测器采集每一扫描点位的光强信息,通过后期数据处理,获得超分辨力的成像结果。

2.如权利要求1所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,步骤(1)将激发光和STED光同时耦合进入单模光纤,从单模光纤出射的两种波长的光束具有很高的重合度,可视为从同一激光器出射。

3.如权利要求1所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,经单模光纤出射的光束通过消色差透镜准直,对两种波长的光束都可以达到很高的准直度。

4.如权利要求1所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,步骤(3)中,采用起偏器和双波长波片,将激发光和STED光调制为偏振方向相互垂直的线偏振光。

5.如权利要求4所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,所述的双波长波片,对激发光为全波片,对STED光为半波片。

6.如权利要求1所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,步骤(4)中,通过液晶偏振转换器,将偏振方向相互垂直的激发光和STED光分别转换为径向偏振光和角向偏振光。

7.如权利要求1所述的实现远场超分辨成像的方法,其特征在于,步骤(5)采用数值孔径为1~1.4的高数值孔径物镜对激发光束和STED光束进行聚焦。

8.用于实现权利要求1~6任一项所述方法的装置,其特征在于包括:用于产生激发光的激光光源;用于产生STED光的激光光源;用于耦合所述激发光和STED光的单模光纤;用于准直单模光纤出射光束的消色差透镜;用于将准直光束变为线偏振光的起偏器;用于将激发光和STED光调制为偏振方向相互垂直的线偏振光的双波长波片;用于将偏振方向相互垂直的激发光和STED光分别转换为径向偏振光和角向偏振光的液晶偏振转换器;用于透射激发光和STED光,且将信号光反射入光强探测器的二向色镜;用于聚焦激发光和STED光的数值孔径为1~1.4的物镜;用于固定样品以及对样品实现扫描成像的三维纳米位移台;用于将信号光聚焦于光强探测器的聚焦透镜;用于探测样品所发出信号光的光强探测器。

9.如权利要求8所述装置,其特征在于,所述消色差准直透镜可以为双胶合透镜,也可以为集成式的准直器。

10.如权利要求8所述装置,其特征在于,所述起偏器包括但不限于薄膜偏振片。

11.如权利要求8所述装置,其特征在于,所述液晶偏振转换器是基于液晶材料的径向/角向偏振转换设备。

12.如权利要求8所述装置,其特征在于,所述高数值孔径物镜的数值孔径为1~1.4。

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