[发明专利]一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法

权利要求书

1.一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于包括以下步骤：

1)将磁化器按设定的第一提离值d1置于待测铁磁性材料上方，所述磁化器由磁轭、励磁和交流激励线圈构成；所述励磁为直流励磁或永磁励磁，所述直流励磁由直流激励线圈提供，永磁励磁由永磁铁提供；

2）利用所述励磁产生一个强度较小的静态磁场对所述待测铁磁性材料进行磁化，所述待测铁磁性材料在所述静态磁场的作用下产生静态偏置并磁化至浅磁化状态；

3）再对所述待测体铁磁性材料施加一个低频小幅度的交变励磁，使所述静态磁场产生一个预期的变化，所述待测铁磁性材料的表面产生包含交变成份的漏磁场；

4)利用检测元件以设定的第二提离值d2对步骤3)所述漏磁场进行检测，并将检测到的所述漏磁场中的交变励磁响应提取，该响应对应漏磁场的变化率；将所述漏磁场的变化率的信号强度△B1与设定的阈值△B进行比较，以判断所述待测铁磁性材料是否存在缺陷；若△B1≥△B，则说明待测铁磁性材料在检测点处存在缺陷，反之，则判断该检测点无缺陷；所述的阈值△B为标准试样测试所取得漏磁场的交变励磁响应信号强度;

5）移动磁化器，改变被测区域，重复步骤4），直至整个待测铁磁性材料表面检测完毕。

2.根据权利要求1所述的一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于：所述第一提离值d1为0.5-3mm。

3.根据权利要求1所述的一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于：所述浅磁化状态是指所述待测铁磁性材料磁化至饱和状态的0-50%。

4.根据权利要求1所述的一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于：所述低频小幅值交流励磁的频率设置为5-100HZ，幅值设置为所述励磁幅值的0-20%。

5.根据权利要求1所述的一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于：所述检测元件采用磁敏传感器或检测线圈。

6.根据权利要求1所述的一种利用漏磁变化率进行无损检测的方法，其特征在于：所述第二提离值d2为0.5-3mm。