[发明专利]一种分析零件的实测图的方法

权利要求书

1.一种分析零件的实测图的方法，包括：

获取包括所述零件的理论电子图和所述实测图的对比图，该对比图能够部分显示或全部显示于用户界面，其中，所述理论电子图的轮廓包括多个理论线条，所述实测图的轮廓包括多个实测线条；

获取所述对比图的偏差尺寸数据；

根据所述对比图尺寸数据来分析所述零件的实测图；

其中，所述零件的实测图通过如下方式获取：

获取所述零件的图像；

获取所述零件的形状模型；

根据所获取的图像以及所述形状模型来确定所述零件的形状；以及

其中，在获取所述零件的图像之前，确定工作台的光照模型，包括：

利用多组光圈和快门的组合获取所述工作台的暗图；

利用所述多组光圈和快门的组合获取所述工作台的亮图；

选择所述暗图中亮度值稳定在第一特定范围内并且所述亮图中亮度值稳定在第二特定范围内所对应的光圈和快门组，以得到所述工作台的光照模型；

在确定所述工作台的光照模型之后，以及在获取所述零件的图像之前，确定图像获取设备与工作台的相对位置关系，包括：

在所述工作台上铺设均匀的黑白相间的棋盘格；

调整所述图像获取设备，以使得所述棋盘格充满所述图像获取设备的整个视野，并使得所述图像获取设备能够拍摄所述棋盘格中尽可能大的面积；

使得工作台坐标系和图像获取设备坐标系的三个维度分别对应起来；以及

通过所述图像获取设备拍摄所述棋盘格来确定所述工作台上每个点的坐标；

其中，所述工作台坐标系以充满所述图像获取设备的整个视野的棋盘格的中心为坐标原点，工作台坐标系的X轴和Y轴分别平行于所述工作台的两个边，Z轴垂直于所述工作台，表示为(X_W Y_W Z_W)；所述图像获取设备坐标系以所述图像获取设备的光心为坐标原点，以相机的光轴为Z轴，方向与所述工作台坐标系的Z轴相反，图像获取设备坐标系的X轴和Y轴分别平行于工作台坐标系的Y轴和X轴，表示为(X_C Y_C Z_C)；

其中，根据所获取的图像以及所述形状模型来确定所述零件的形状包括：

利用边缘检测算子来进行边缘检测以得到边缘点；

根据所述图像获取设备与工作台的相对位置关系，获取所述边缘点在所述工作台坐标系中的空间位置向量；以及

根据所述零件的形状模型，对所述边缘点在所述工作台坐标系中的空间位置向量进行微调。

2.根据权利要求1所述分析零件的实测图的方法，其中，获取所述对比图之前进一步包括：

获取所述理论电子图和所述实测图；

配准所述理论电子图和所述实测图，以便将所述理论电子图和所述实测图的重心重合或基准点重合。

3.根据权利要求1所述分析零件的实测图的方法，获取所述对比图尺寸数据至少包括下述一种：

导入所述理论电子图，以获取理论尺寸，该理论尺寸包括多个理论尺寸项，该理论尺寸项为所述理论线条的测量值；

测量所述实测图，以获取实际尺寸，该实际尺寸包括多个实际尺寸项，该实际尺寸项为所述实际线条的测量值；以及

确定所述理论电子图与所述实测图的偏差尺寸，该偏差尺寸包括多个偏差尺寸项，该偏差尺寸项为所述理论线条和对应该理论线条的所述实测线条的偏差值。

4.根据权利要求3所述分析零件的实测图的方法，分析所述零件的实测图包括：

在所述对比图中，标注并显示所述对比图尺寸数据为多个标注项以进行分析；以及

在所述用户界面中，根据所述对比图尺寸数据生成并显示尺寸列表以进行分析，其中，所述尺寸列表包括多个列表项，每个所述列表项包括所述理论线条或所述实测线条的测量标注类型、所述理论尺寸项、所述实际尺寸项。

5.根据权利要求3所述分析零件的实测图的方法，分析所述零件的实测图还包括下述中至少一种：

当选中所述理论线条或所述实测线条时，在用户界面中弹出信息窗口，所述信息窗口的显示内容包括理论尺寸项、所述实际尺寸项、所述偏差值、公差标准以及公差；以及

当选中两个所述理论线条或两个所述实测线条时，在用户界面中弹出信息窗口，所述信息窗口显示内容包括两个所述理论线条的理论相对尺寸、两个所述实测线条的实际相对尺寸、所述偏差值、公差以及公差标准。