[发明专利]带测试模式的电源管理芯片

说明书

技术领域

本发明公开了带测试模式的电源管理芯片，属于电子电路的技术领域。

背景技术

现有技术中电源管理芯片通常用一个独立管脚来设定测试模式。当该管脚被连到电源，则电源管理芯片进入测试模式；当该管脚接地时，电源管理芯片进入正常工作模式。例如在芯片进行晶圆测试（在封装前，包括进行坏片筛除、重要参数修调等步骤），通过设定电路进入测试模式，有助于对一些无法在芯片正常工作时进行测试的参数实现监测或者极大减小测试时间（为了测试某些参数，在正常工作状态下可能需要等待例如1秒，一般超过100毫秒的等待时间在晶圆测试时都无法容忍，因为时间成本太高）。但对封装管脚紧张的情况而言，增加管脚会增大封装尺寸，这样会增加印刷电路板尺寸，不利于小型化设计；同时更大的封装意味着更高的封装成本。

本发明的目的是无需额外的测试模式设定管脚，通过现有的管脚来实现测试模式设定。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述背景技术的不足，提供了带测试模式的电源管理芯片。

本发明为实现上述发明目的采用如下技术方案：

带测试模式的电源管理芯片，包括输出引脚及与该输出引脚相连的功能电路与功能电路输出端连接的检测电路，所述检测电路基于所述输出引脚上的电压确定是否需要使得电源管理芯片进入测试模式。

作为带测试模式的电源管理芯片的进一步优化方案：

所述检测电路将所述输出引脚上的电压与阈值电压相比较，在所述输出引脚上的电压大于阈值电压时，输出有效的测试模式信号，否则，检测电路输出无效的测试模式信号；

所述功能电路通过输出引脚向外界输出信号，该信号的最高电压低于阈值电压，阈值电压与该信号最高电压的差值至少为0.7V；

在功能电路输出端与输出引脚之间连接有限流电阻。

作为检测电路的进一步优化方案：

检测电路包括第一PMOS管以及电流源，第一PMOS管源极以及衬底均连接至功能电路输出端，第一PMOS管栅极接控制电压，该控制电压为功能电路通过输出引脚向外界输出的信号的最高电压，第一PMOS管漏极为所述检测电路的输出端，经电流源接地；

检测电路为正输入端接功能电路输出端，负输入端接阈值电压的比较器，比较器的输出端为检测电路的输出端。

作为功能电路的进一步优化方案：

功能电路是复位驱动电路，此时所述输出引脚为复位输出管脚；

复位驱动电路包括NMOS管以及第二PMOS管，所述第二PMOS管，其衬底所接电压高于其源极所接电压，所述NMOS管的源极以及衬底均接地，所述第二PMOS管栅极与NMOS管栅极连接在一起作为复位驱动电路的输入端，所述NMOS管漏极与第二PMOS管漏极连接在一起作为复位驱动电路的输出端。

调节带测试模式的电源管理芯片为测试模式的方法，在希望使得所述电源管理芯片进入测试模式时，将一个幅值高于阈值电压的电压源连接至所述输出引脚。

本发明采用上述技术方案，具有以下有益效果：本发明通过复用输出管脚，来实现电管管理芯片的测试模式的设定，这样减少了引脚数目，在不增加封装尺寸的前提下亦可实现测试功能。

附图说明

图1为本发明带测试模式电源管理芯片的框图。

图2为本发明带测试模式电源管理芯片在测试模式下的等效电路图。

图3为本发明带测试模式电源管理芯片的一个实施例。

图4为检测电路的一个实施例。

图5为检测电路的另一个实施例。

图6为图3中MP1管的截面图。

图中标号说明：MP1、MP2为PMOS管，MN2为NMOS管，R2为限流电阻，R为寄生电阻,。I1为电流源。

具体实施方式

下面结合附图对发明的技术方案进行详细说明。

图1示出了本发明提出的一种带测试模式的电源管理芯片，该电源管理芯片为外界电路供电。

电源管理芯片包括：输出引脚，与该输出引脚相连的功能电路，与功能电路输出端连接的检测电路，检测电路基于所述输出引脚上的电压确定是否需要使得所述电源管理芯片进入测试模式。检测电路将输出引脚上的电压与阈值电压相比较，在输出引脚上的电压大于阈值电压时，输出有效的测试模式信号，此时电管管理电路就进入了测试模式，在输出引脚上的电压小于阈值电压时，检测电路输出无效的测试模式信号，此时电管管理电路就不进入测试模式。